[發明專利]光學特性測量裝置以及光學特性測量裝置的設定方法

有效

• 申請號: 201680034686.3
• 申請日: 2016-05-23
• 公開（公告）號: CN107709941B
• 公開（公告）日: 2020-04-14
• 發明（設計）人: 前田穣
• 申請（專利權）人: 柯尼卡美能達株式會社
• 主分類號: G01J1/44
• 分類號: G01J1/44;G01J1/38;G01J3/51;G01M11/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 張麗

光學特性測量裝置具備：輸入部，關于使用分光傳感器的測量輸入第1曝光時間以及第1累計次數；計算部，使用所輸入的第1曝光時間和第1累計次數來計算使用分光傳感器的測量的測量時間(第1測量時間)；以及確定部，以減小第1測量時間與使用二維成像傳感器的測量的測量時間(第2測量時間)之差或者消除差的方式確定使用二維成像傳感器的測量中的第2曝光時間以及第2累計次數中的至少一方。

技術領域

本發明例如涉及測量顯示器的畫面的光學特性的技術。

背景技術

光學特性測量裝置是使用光學傳感器來測量光學特性(例如，色彩、亮度、光澤)的裝置。二維顏色測量儀是光學特性測量裝置的一種，進行與測量面的顏色有關的測量。二維顏色測量儀被應用在各種工業領域，例如被用于顯示器的畫面的色度分布的測量。

著眼于分光傳感器能夠高精度地測量測量點(換言之，點區域)的顏色的特征，提出有組合分光傳感器與對二維彩色圖像進行拍攝的拍攝部而成的二維顏色測量儀。例如，專利文獻1公開有一種二維顏色測量儀，該二維顏色測量儀具備：分束器，對來自測量對象的光進行二分割；拍攝部，接收二分割而得到的一路光；分光傳感器，接收二分割而得到的另一路光；以及運算部，使用由分光傳感器測量出的測量點的分光分布，計算三刺激值，使用該三刺激值和由拍攝部拍攝而得到的測量區域的各像素的數據，計算各像素的三刺激值。拍攝部是將黑白CCD傳感器和與XYZ色度圖的顏色匹配函數近似的濾波器進行組合而成的傳感器。

根據上述二維顏色測量儀，分別實施使用包括CCD傳感器的拍攝部的測量和使用分光傳感器的測量。在使用這些光學傳感器(CCD傳感器、分光傳感器)的測量中，設定曝光時間以及累計次數。曝光時間是光學傳感器在測量過程中曝光的時間。二維顏色測量儀實施多次測量，對各測量中的測量值進行累計，從而減小了測量值的誤差。累計次數是累計的測量值的數量。既存在將累計而得到的測量值直接送到接下來的處理的情況，也存在將把累計而得到的測量值除以累計次數而得到的平均值送到接下來的處理的情況。

使用光學傳感器的測量的測量時間依賴于曝光時間以及累計次數，當增長曝光時間或者增多累計次數時，測量時間變長。相對于此，當縮短曝光時間或者減少累計次數時，測量時間變短。

在二維顏色測量儀中，針對拍攝部以及分光傳感器分別設定預定的曝光時間以及累計次數。本發明人發現，在測量者關于這些光學傳感器的每一個設定曝光時間以及累計次數時，存在在使用一個光學傳感器的測量的測量時間與使用另一個光學傳感器的測量的測量時間之間產生大的差異的情況。兩個光學傳感器中的測量時間短的光學傳感器必須在該期間待機。當在兩個光學傳感器的測量時間之間產生大的差異時，測量時間短的光學傳感器的待機時間變長，該光學傳感器的利用效率變差。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本專利第3246021號說明書

發明內容

本發明的目的在于提供能夠防止在使用兩個光學傳感器來測量光學特性時在任意的光學傳感器中產生長的待機時間的光學特性測量裝置以及光學特性測量裝置的設定方法。

達成上述目的的本發明提供一種光學特性測量裝置具備：第1光學傳感器，將測量對象中的二維區域作為測量范圍；第2光學傳感器，將包含于所述二維區域且比所述二維區域窄的點區域作為測量范圍；輸入部，關于使用所述第1光學傳感器以及所述第2光學傳感器中的一個光學傳感器的測量被輸入第1曝光時間以及第1累計次數；計算部，使用被輸入到所述輸入部的所述第1曝光時間和所述第1累計次數來計算第1測量時間，該第1測量時間是使用所述一個光學傳感器的測量的測量時間；以及確定部，以減小所述第1測量時間與第2測量時間之差或者消除所述差的方式確定使用所述第1光學傳感器以及所述第2光學傳感器中的另一個光學傳感器的測量中的第2曝光時間以及第2累計次數中的至少一方，所述第2測量時間是使用所述另一個光學傳感器的測量的測量時間。