[發明專利]光學特性測量裝置以及光學特性測量裝置的設定方法

有效

• 申請號: 201680034686.3
• 申請日: 2016-05-23
• 公開（公告）號: CN107709941B
• 公開（公告）日: 2020-04-14
• 發明（設計）人: 前田穣
• 申請（專利權）人: 柯尼卡美能達株式會社
• 主分類號: G01J1/44
• 分類號: G01J1/44;G01J1/38;G01J3/51;G01M11/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 張麗

1.一種光學特性測量裝置，具備：

第1光學傳感器，將測量對象中的二維區域作為測量范圍；

第2光學傳感器，將包含于所述二維區域且比所述二維區域窄的點區域作為測量范圍；

輸入部，關于使用所述第1光學傳感器以及所述第2光學傳感器中的一個光學傳感器的測量被輸入第1曝光時間以及第1累計次數；

計算部，使用被輸入到所述輸入部的所述第1曝光時間和所述第1累計次數計算第1測量時間，該第1測量時間是使用所述一個光學傳感器的測量的測量時間；以及

確定部，以減小所述第1測量時間與第2測量時間之差或者消除所述差的方式確定使用所述第1光學傳感器以及所述第2光學傳感器中的另一個光學傳感器的測量中的第2曝光時間以及第2累計次數中的至少一方，所述第2測量時間是使用所述另一個光學傳感器的測量的測量時間。

2.根據權利要求1所述的光學特性測量裝置，其中，

所述確定部以避免所述第2測量時間超過所述第1測量時間的方式確定所述第2曝光時間以及所述第2累計次數中的至少一方。

3.根據權利要求2所述的光學特性測量裝置，其中，

所述確定部以使得成為能夠設定為所述第2測量時間的值中的最接近所述第1測量時間的值的方式確定所述第2曝光時間以及所述第2累計次數中的至少一方。

4.根據權利要求1～3中的任意一項所述的光學特性測量裝置，其中，

所述測量對象為按照預定的刷新周期工作的顯示器的畫面，

所述輸入部受理所述刷新周期的整數倍的所述第1曝光時間的輸入，

所述確定部從可變曝光時間中確定所述第2曝光時間，該可變曝光時間表示對所述刷新周期取整數倍而得到的值。

5.根據權利要求4所述的光學特性測量裝置，其中，

所述光學特性測量裝置還具備存儲部，該存儲部預先存儲飽和曝光時間，該飽和曝光時間是來自所述另一個光學傳感器的輸出飽和的曝光時間，

所述確定部將比所述飽和曝光時間小的值確定為所述第2曝光時間。

6.根據權利要求5所述的光學特性測量裝置，其中，

所述確定部將最接近所述飽和曝光時間的值確定為所述第2曝光時間。

7.根據權利要求1～3中的任意一項所述的光學特性測量裝置，其中，

所述第1光學傳感器包括RGB的彩色濾光器以及通過所述RGB的彩色濾光器進行受光的二維成像傳感器，

所述第2光學傳感器包括分光傳感器。

8.根據權利要求7所述的光學特性測量裝置，其中，

所述光學特性測量裝置還具備顏色校正部，該顏色校正部使用由所述分光傳感器測量出的所述點區域的顏色數據來校正由所述二維成像傳感器測量出的包括所述點區域的所述二維區域的各像素的顏色數據。

9.根據權利要求1～3中的任意一項所述的光學特性測量裝置，其中，

所述光學特性測量裝置還具備光分割部，該光分割部對來自所述測量對象的光進行二分割，

所述第1光學傳感器配置于所述二分割得到的一路光的光路，

所述第2光學傳感器配置于所述二分割得到的另一路光的光路。

10.一種光學特性測量裝置的設定方法，所述光學特性測量裝置具備：第1光學傳感器，將測量對象中的二維區域作為測量范圍；以及第2光學傳感器，將包含于所述二維區域且比所述二維區域窄的點區域作為測量范圍，其中，所述光學特性測量裝置的設定方法具備：

輸入步驟，關于使用所述第1光學傳感器以及所述第2光學傳感器中的一個光學傳感器的測量輸入第1曝光時間以及第1累計次數；

計算步驟，使用在所述輸入步驟中輸入的所述第1曝光時間和所述第1累計次數來計算第1測量時間，該第1測量時間是使用所述一個光學傳感器的測量的測量時間；以及

確定步驟，以減小所述第1測量時間與第2測量時間之差或者消除所述差的方式確定使用所述第1光學傳感器以及所述第2光學傳感器中的另一個光學傳感器的測量中的第2曝光時間以及第2累計次數中的至少一方，該第2測量時間是使用所述另一個光學傳感器的測量的測量時間。