[發明專利]使用離子過濾的質量分析方法

有效

• 申請號: 201680030355.2
• 申請日: 2016-05-31
• 公開（公告）號: CN107690690B
• 公開（公告）日: 2020-03-20
• 發明（設計）人: 理查德·莫爾德斯
• 申請（專利權）人: 英國質譜公司
• 主分類號: H01J49/00
• 分類號: H01J49/00;H01J49/06;H01J49/42
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 宋融冰

公開一種質譜分析方法，包括通過檢測器(6)檢測通過質量過濾器(4)發射的離子；在電壓轉變周期期間改變施加于該質量過濾器(4)的RF和/或DC電壓以便改變能夠通過該質量過濾器(4)發射的質荷比；在該電壓轉變周期期間防止離子到達該檢測器；以及在該電壓轉變周期之后允許將離子發射到該檢測器(6)。

相關申請的交叉引用

本申請要求2015年5月29日提交的英國專利申請第1509244.8號的優先權和權益，所述專利申請的全部內容以引入的方式并入本文中。

技術領域

本發明大體上涉及質譜儀且特定來說涉及通過檢測由質量過濾器發射的離子而分析離子的質譜儀。

背景技術

已知使用四極棒組以根據離子的質荷比而過濾離子。RF和DC電壓的不同組合可用于選擇由所述四極發射的質荷比。對于第一周期，RF和DC電壓通常為固定的，使得所述四極選擇性地僅發射具有所關注的第一質荷比的離子。RF和DC電壓接著步進，使得在第二周期中所述四極選擇性地僅發射具有所關注的第二質荷比的離子。舉例來說，此類方法可用以在單離子記錄(SIR)、單反應監測(SRM)和多反應監測(MRM)實驗中選擇離子。

當以此方式使用四極時，在第一周期期間發射的離子電流可極大，而在第二周期期間發射的離子電流可相對較小。第一較大離子電流可使得檢測器基線位移。舉例來說，如果將光電倍增管用作檢測器，則較大離子信號可使得檢測器的光陰極變得經激發且在已去除刺激之后發射電子達相當大的時間周期。此類基線位移可引起遵循高強度信道的信道的測量誤差。

已知在分析獲取之前測量檢測器的基線電平?？山又鴱脑诜治鲞\行期間測量的離子信號減去所述基線電平。然而，此類方法不能夠考慮到可在已檢測到高離子電流之后發生的基線電平的位移。

許多四極電壓驅動電路設計使得DC電壓分量滯后于RF電壓分量。當四極經步進以使得所發射的離子的質荷比隨時間的推移而增大時，DC電壓分量暫時低于RF電壓分量。此暫時允許由所述四極發射具有廣泛質荷比范圍的離子。其它電壓驅動電路設計使得DC電壓分量領先于RF電壓分量。當四極經步進以使得所發射的離子的質荷比隨時間的推移而減小時，所述四極可去分辨。同樣，此導致離子的相對較大脈沖暫時通過所述四極發射。離子脈沖的振幅取決于經測量分析物附近的離子物種的數目和其豐度。因此，將了解，四極的步進操作有時可導致對例如分析質量過濾器或檢測器的下游裝置造成沖擊的離子的相對較大脈沖，每當所述四極步進時。如果離子的相對較大脈沖到達此下游裝置，則可具有有害的結果。

采用四極質量過濾器的質譜儀通常僅在四極過濾動作處于穩定狀態下時，即在RF:DC比率大體上固定時收集數據。舉例來說，如果分析物A和B待分析，則系統將改變所需RF和DC電壓分量以便過濾除了具有對應于分析物A的質荷比的質荷比的離子之外的所有離子；將接著等待四極的電極上的電壓穩定以便促進合適的質量分辨率；且將接著測量和記錄一時間周期內的離子電流。系統將接著在編程分析物B的接下來的RF和DC值之前停止記錄離子電流；且將在記錄分析物B的離子電流之前等待四極的電極上的電壓穩定。接著將離子電流存儲于單獨信道中以便允許進一步數據處理。因此，當RF和DC電壓不穩定(即在步進值之間)時并不記錄或顯示離子電流，因為此數據在分析上并不適用。

因此，由暫時的四極去分辨率引起的離子脈沖的有害本質變得未被發現。然而，其對數據質量的可能效應為真實的，在測量離子電流時引起檢測器基線的延長到掃描或停留周期中的位移且因此可引起分析物的誤定量。

需要提供改進型質譜儀和改進型質譜分析方法。

發明內容

根據第一方面，本發明提供一種質譜分析方法，其包括：

將RF和DC電壓施加于質量過濾器的電極使得所述質量過濾器能夠大體上僅發射具有選定質荷比或選定質荷比范圍的離子；

通過檢測器檢測通過所述質量過濾器發射的所述離子；