[發明專利]使用離子過濾的質量分析方法有效
| 申請號: | 201680030355.2 | 申請日: | 2016-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN107690690B | 公開(公告)日: | 2020-03-20 |
| 發明(設計)人: | 理查德·莫爾德斯 | 申請(專利權)人: | 英國質譜公司 |
| 主分類號: | H01J49/00 | 分類號: | H01J49/00;H01J49/06;H01J49/42 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 宋融冰 |
| 地址: | 英國威*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 使用 離子 過濾 質量 分析 方法 | ||
1.一種質譜分析方法,包括:將RF和DC電壓施加于質量過濾器的電極使得所述質量過濾器能夠大體上僅發射具有選定質荷比或選定質荷比范圍的離子;
通過檢測器檢測通過所述質量過濾器發射的所述離子;
在電壓轉變周期期間改變施加于所述電極的所述RF和/或DC電壓以便改變所述質量過濾器能夠發射的所述選定質荷比或所述選定質荷比范圍;
在所述電壓轉變周期期間防止所有離子到達所述檢測器;
當防止離子到達所述檢測器時,在所述電壓轉變周期期間測量從所述檢測器輸出的信號,以便確定所述檢測器的基線信號;
在所述電壓轉變周期之后允許離子由所述質量過濾器發射到所述檢測器;
當允許離子發射到所述檢測器時,在所述電壓轉變周期之后測量來自所述檢測器的離子信號;以及
從所述離子信號減去所述基線信號。
2.根據權利要求1所述的方法,包括在另一電壓轉變周期期間改變施加于所述電極的所述RF和/或DC電壓以便改變所述質量過濾器能夠發射的所述選定質荷比或所述選定質荷比范圍;
在所述另一電壓轉變周期期間防止所有離子到達所述檢測器;以及
在所述另一電壓轉變周期之后允許離子由所述質量過濾器發射到所述檢測器。
3.根據權利要求2所述的方法,包括當防止離子到達所述檢測器時,在所述另一電壓轉變周期期間測量從所述檢測器輸出的所述信號以確定所述檢測器的更新基線信號;
當允許離子發射到所述檢測器時,在所述另一電壓轉變周期之后測量來自所述檢測器的所述離子信號;以及
從所述離子信號減去所述更新基線信號。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其中所述質量過濾器為包括多極電極棒組的多極質量過濾器。
5.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其中在所述電壓轉變周期期間防止所有離子到達所述檢測器的步驟包括:
防止所有離子進入所述質量過濾器;和/或
防止從所述質量過濾器發射出的所有離子到達所述檢測器。
6.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其中在所述電壓轉變周期期間防止所有離子到達所述檢測器包括:
將一個或更多個電壓施加于離子阻擋或偏轉裝置的至少一個電極以便將電勢壘布置在所述離子的路徑中或以便使所述離子偏轉,使得防止所述離子到達所述檢測器。
7.根據權利要求6所述的方法,其中施加于離子阻擋或偏轉裝置的所述至少一個電極的所述電壓獨立于施加于所述質量過濾器的所述電極的所述RF和/或DC電壓而經控制。
8.根據權利要求2或3所述的方法,包括在所述電壓轉變周期和/或所述另一電壓轉變周期期間改變施加于所述質量過濾器的所述電極的所述RF和DC電壓兩者,其中所述RF振幅在所述電壓轉變周期期間增大;其中,所述DC電壓在所述電壓轉變周期內的第一時間周期內改變且所述RF電壓在所述電壓轉變周期內的第二時間周期內改變;并且其中所述第一時間周期短于所述第二時間周期,且/或所述第一時間周期在所述第二時間周期結束之前結束。
9.根據權利要求2或3所述的方法,包括在所述電壓轉變周期和/或所述另一電壓轉變周期期間改變施加于所述質量過濾器的所述電極的所述RF和DC電壓兩者;其中,所述RF振幅在所述電壓轉變周期期間減小;其中,所述RF電壓在所述電壓轉變周期內的第一時間周期內改變且所述DC電壓在所述電壓轉變周期內的第二時間周期內改變;并且其中所述第一時間周期短于所述第二時間周期,且/或所述第一時間周期在所述第二時間周期結束之前結束。
10.一種質譜儀,包括:
質量過濾器,包括多個電極;
RF和DC電壓供應器;
離子檢測器;
離子阻擋裝置或偏轉裝置,用于阻擋離子或使離子偏轉;和
控制器,被設置和配置成控制所述質譜儀以
將來自所述電壓供應器的RF和DC電壓施加于所述質量過濾器的所述電極使得所述質量過濾器能夠大體上僅發射具有選定質荷比或選定質荷比范圍的離子;
通過所述檢測器檢測通過所述質量過濾器發射的所述離子;
在電壓轉變周期期間改變施加于所述電極的所述RF和/或DC電壓以便改變所述質量過濾器能夠發射的所述選定質荷比或所述選定質荷比范圍;
在所述電壓轉變周期期間啟動所述離子阻擋裝置或偏轉裝置以便防止所有離子到達所述檢測器;
控制所述質譜儀以在所述電壓轉變周期期間測量從所述檢測器輸出的信號以確定所述檢測器的基線信號;以及接著
在所述電壓轉變周期之后撤銷啟動所述離子阻擋裝置或偏轉裝置以便允許離子由所述質量過濾器發射到所述檢測器;
在所述電壓轉變周期之后測量來自所述檢測器的離子信號;以及
從所述離子信號減去所述基線信號。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于英國質譜公司,未經英國質譜公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201680030355.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:離子植入系統以及原位等離子清洗方法
- 下一篇:陷阱填充時間動態范圍增強





