[發(fā)明專(zhuān)利]制備互補(bǔ)器件的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201680018686.4 | 申請(qǐng)日: | 2016-05-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107810543A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-03-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 拉爾斯-埃里克·維爾納松;約翰內(nèi)斯·斯文松;阿尼爾·戴伊 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 拉爾斯-埃里克·維爾納松 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/02 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/02;H01L21/8238;H01L21/8252;H01L27/092;H01L29/06;H01L29/205;H01L29/423;H01L29/775;B82Y10/00 |
| 代理公司: | 北京天昊聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11112 | 代理人: | 顧麗波,井杰 |
| 地址: | 瑞典*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 制備 互補(bǔ) 器件 方法 | ||
1.一種在一個(gè)生長(zhǎng)過(guò)程中制備至少兩組納米線的方法,包括以下步驟:
-提供硅平臺(tái);以及
-在一個(gè)生長(zhǎng)過(guò)程中,使用金顆粒來(lái)生長(zhǎng)至少一組III-Vn型納米線和至少一組III-Vp型納米線,其中,所述金顆粒具有對(duì)于所述III-Vn型納米線的一個(gè)尺寸和對(duì)于所述III-Vp型納米線的一個(gè)尺寸。
2.一種在一個(gè)生長(zhǎng)過(guò)程中制備至少兩組納米線的方法,包括以下步驟:
-提供硅平臺(tái);以及
-在一個(gè)生長(zhǎng)過(guò)程中,使用金顆粒來(lái)生長(zhǎng)至少一組III-Vn型納米線和至少一組III-Vp型納米線,其中,所述金顆粒具有對(duì)于所述III-Vn型納米線的一個(gè)尺寸和對(duì)于所述III-Vp型納米線的與所述n型納米線不同的一個(gè)尺寸,且其中,所述p型納米線含有Sb。
3.一種在一個(gè)生長(zhǎng)過(guò)程中制備至少兩組納米線的方法,包括以下步驟:
-提供硅平臺(tái);以及
-在一個(gè)生長(zhǎng)過(guò)程中,使用金顆粒來(lái)生長(zhǎng)至少一組III-Vn型納米線和至少一組III-Vp型納米線,其中,所述金顆粒具有對(duì)于所述III-Vn型納米線的一個(gè)尺寸和對(duì)于所述III-Vp型納米線的一個(gè)尺寸,且其中,納米線并行布置。
4.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,其中,所述硅平臺(tái)由p型Si襯底組成。
5.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,還包括將InAs層設(shè)置在所述硅平臺(tái)上的步驟。
6.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,其中,所述金顆粒具有范圍在3nm至100nm內(nèi)的直徑。
7.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,其中,所述至少一組n型納米線和所述至少一組p型納米線生長(zhǎng)至范圍在10nm至1000nm內(nèi)的相同的高度。
8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,將至少一個(gè)金屬柵極放置為與所述至少一組n型納米線或所述至少一組p型納米線中的一組中的至少一個(gè)納米線接觸。
9.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,將至少一個(gè)金屬柵極放置為與所述至少一組n型納米線中的至少一個(gè)納米線和所述至少一組p型納米線中的至少一個(gè)納米線接觸。
10.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,其中,所述至少一組n型納米線是n-InAs納米線,并且其中,所述至少一組p型納米線是p-GaSb納米線。
11.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,還包括:將III-V半導(dǎo)體殼設(shè)置為圍繞所述至少一組p型納米線中的至少一個(gè)p型納米線。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其中,所述III-V半導(dǎo)體殼由InGaAs和/或GaInAsSb組成。
13.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,其中,所述納米線是軸向異質(zhì)結(jié)構(gòu)納米線。
14.一種制備至少兩組納米線的方法,包括以下步驟:
-提供硅平臺(tái);
-在所述硅平臺(tái)上設(shè)置至少兩個(gè)金盤(pán);
-用電介質(zhì)膜覆蓋所述盤(pán)中的至少一個(gè);
-在所述盤(pán)中的至少一個(gè)盤(pán)的所述電介質(zhì)膜中形成開(kāi)口;
-使用所述金盤(pán)來(lái)生長(zhǎng)至少一組III-Vn型納米線或至少一組III-Vp型納米線;
-去除所述電介質(zhì)膜;
-為所述至少一組n型納米線或所述至少一組p型納米線設(shè)置至少一個(gè)金種子;以及
-使用所述至少一個(gè)金種子來(lái)生長(zhǎng)至少一組III-Vn型納米線或至少一組III-Vp型納米線。
15.一種半導(dǎo)體器件,包括至少一組III-Vn型納米線和至少一組III-Vp型納米線,其中,所述至少一組n型納米線和所述至少一組p型納米線在根據(jù)權(quán)利要求1至14所述的一個(gè)生長(zhǎng)過(guò)程中生長(zhǎng)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專(zhuān)門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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