[發明專利]光量檢測裝置、利用其的免疫分析裝置及電荷粒子束裝置

有效

• 申請號: 201680018266.6
• 申請日: 2016-03-16
• 公開（公告）號: CN107407595B
• 公開（公告）日: 2018-09-07
• 發明（設計）人: 笠井優;大西富士夫;田崎修;田上英嗣;田中一啟
• 申請（專利權）人: 株式會社日立高新技術
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42;G01N23/2251;G01N33/53
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 曾賢偉;范勝杰

1.一種光量檢測裝置，其特征在于，具備：

放大部，其進行放大來自對光檢測的光檢測部的檢測信號的放大處理；

A/D轉換部，其進行A/D轉換處理，所述A/D轉換處理是將由所述放大部放大的檢測信號轉換成數字信號并進行輸出；

基準電壓計算部，其對來自所述A/D轉換部的輸出信號進行基準電壓計算處理，所述基準電壓計算處理是將低于預先確定的基準閾值的信號成分的時間平均值計算為基準電壓；

基準補償處理部，其對來自A/D轉換部的輸出信號進行基準補償處理，所述基準補償處理是以使由基準電壓計算部計算出的基準電壓成為0的方式來進行補償；

暗電流計算部，其對光未輸入至所述光檢測部的狀態下的來自基準電壓計算部的輸出信號進行暗電流計算處理，所述暗電流計算處理是將高于預先確定的信號檢測閾值的信號成分計算為暗電流脈沖；

閾值處理部：其對來自所述基準電壓計算部的輸出信號進行閾值處理，所述閾值處理是將高于預先確定的信號檢測閾值的信號成分計算為檢測光脈沖；以及

發光信號量計算部，其進行發光信號量計算處理，所述發光信號量計算處理是從在所述閾值處理中獲得的檢測光的信號成分中減去在所述暗電流計算處理中獲得的暗電流的信號成分的時間平均值，來計算發光信號量。

2.根據權利要求1所述的光量檢測裝置，其特征在于，

并行執行所述基準電壓計算處理和所述暗電流計算處理。

3.根據權利要求1所述的光量檢測裝置，其特征在于，

所述光量檢測裝置還具備：輸出信號存儲部，其存儲來自所述A/D轉換部的輸出信號并根據需要進行輸出，

所述暗電流計算處理、所述閾值處理、所述發光信號量計算處理是基于來自前期輸出信號存儲部的輸出信號進行的。

4.根據權利要求1或3所述的光量檢測裝置，其特征在于，

該光量檢測裝置還具備：檢測信號切換部，其對有無輸出來自所述光檢測部的檢測信號進行切換。

5.根據權利要求1所述的光量檢測裝置，

在光未輸入至所述光檢測部的狀態下、或者沒有來自所述光檢測部的檢測信號的狀態下進行所述基準電壓計算處理。

6.一種免疫分析裝置，其特征在于，具備：

流動池，其被導入測量對象的試樣與試劑的混合液，所述試劑包含與所述試劑中的特定成分結合并形成復合體的發光體和磁性粒子；

磁場產生裝置，其產生用于將被導入至所述流動池的混合液中的所述復合體捕捉到所述流動池內的預先確定的測量區域中的磁場；以及

所述權利要求1所記載的光量檢測裝置，其檢測由捕捉到所述測量區域的復合體產生的光。

7.一種電荷粒子束裝置，其特征在于，具備：

試樣臺，其配置測量對象的試樣；

電荷粒子束照射裝置，其對所述試樣臺上的試樣照射電荷粒子束；以及

所述權利要求1所記載的光量檢測裝置，其檢測通過由所述電荷粒子束的照射而從所述試樣中生成的二次電子在閃爍器中生成的光。