[發明專利]檢查裝置以及檢查系統

有效

• 申請號: 201680008565.1
• 申請日: 2016-01-26
• 公開（公告）號: CN107209126B
• 公開（公告）日: 2019-11-26
• 發明（設計）人: 岡田敬夫;田中隆;竹下洸資
• 申請（專利權）人: 博世包裝技術株式會社
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 72001 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 閆小龍;杜荔南<國際申請>=PCT/JP

檢查裝置1具備：對具有亮部T1和比亮部T1昏暗的暗部T2的被檢物T進行照明的照明部2、將來自被照明部2照明后的被檢物T的物光分割為通過分別不同的光路的第一光L1和第二光L2的光路分割部3、使通過光路分割部3后的第一光L1的光量降低的濾光器4、通過濾光器4后的第一光L1進行成像的第一攝像部5a、通過光路分割部3后的第二光L2進行成像的第二攝像部5b、以及根據由第一攝像部5a攝像的亮部的信息和由第二攝像部5b攝像的暗部的信息檢查被檢物的缺陷的有無的檢查部7。

技術領域

本發明涉及對被檢物的瑕疵或污垢等缺陷進行檢查的檢查裝置以及檢查系統的技術領域。

背景技術

以往，作為進行容器的檢查等的裝置，公開了能夠通過1個檢查轉子檢查不同的檢查內容的裝置（參照專利文獻1）。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2012-202767號公報。

發明內容

發明要解決的課題

可是，根據不同的檢查內容，關于檢查裝置，使用分別不同的檢查裝置，因此，需要多個檢查裝置，并且，需要配置多個檢查裝置的空間，成為高成本的裝置。

本發明是鑒于這樣的情況而完成的，其目的在于提供能夠通過簡單的構造同時進行亮暗不同的部分的檢查的檢查裝置以及檢查系統。

用于解決課題的方案

本發明的檢查裝置具備：照明部，對具有亮部和比所述亮部昏暗的暗部的被檢物進行照明；光路分割部，將來自被所述照明部照明后的所述被檢物的物光分割為通過分別不同的光路的第一光和第二光；濾光器，使通過所述光路分割部后的所述第一光的光量降低；第一攝像部，在其中，通過所述濾光器后的所述第一光進行成像；第二攝像部，在其中，通過所述光路分割部后的所述第二光進行成像；以及檢查部，根據由所述第一攝像部攝像的亮部的信息和由所述第二攝像部攝像的暗部的信息檢查所述被檢物的缺陷的有無。

此外，本發明的檢查裝置具備以能旋轉的方式載置所述被檢物的保持部，所述第一攝像部和所述第二攝像部分別呈線狀地排列有多個光電變換元件。

此外，本發明的檢查裝置的所述光路分割部具有包含分束器的棱鏡。

此外，本發明的檢查裝置的所述光路分割部具有反射構件，所述反射構件包含以分別不同的角度傾斜的相鄰的第一反射面和第二反射面。

此外，本發明的檢查裝置具備：圖像處理部，將由所述第一攝像部攝像的亮部的圖像和由所述第二攝像部攝像的暗部的圖像合成；以及顯示部，對由所述圖像處理部處理后的圖像進行顯示。

此外，本發明的檢查系統具備：概略圓盤狀的轉子主體，能以軸為中心旋轉；工作臺，在所述轉子主體的外周緣以能旋轉的方式支承所述被檢物；蓋子，從上方按壓所述被檢物；以及所述檢查裝置，對放置于所述工作臺的所述被檢物進行檢查。

發明效果

本發明的檢查裝置具備：照明部，對具有亮部和比所述亮部昏暗的暗部的被檢物進行照明；光路分割部，將來自被所述照明部照明后的所述被檢物的物光分割為通過分別不同的光路的第一光和第二光；濾光器，使通過所述光路分割部后的所述第一光的光量降低；第一攝像部，在其中，通過所述濾光器后的所述第一光進行成像；第二攝像部，在其中，通過所述光路分割部后的所述第二光進行成像；以及檢查部，根據由所述第一攝像部攝像的亮部的信息和由所述第二攝像部攝像的暗部的信息檢查所述被檢物的缺陷的有無。因此，能夠通過簡單的構造同時進行亮暗不同的部分的檢查。

此外，本發明的檢查裝置具備以能旋轉的方式載置所述被檢物的保持部，所述第一攝像部和所述第二攝像部分別呈線狀地排列有多個光電變換元件。因此，能夠顯示高分辨率的圖像。