[外觀設計]半導體器件測試系統有效
| 申請號： | 201630149078.X | 申請日： | 2016-04-28 |
| 公開（公告）號： | CN303957957S | 公開（公告）日： | 2016-12-07 |
| 發明（設計）人： | 劉沖;李潔;闞勁松 | 申請（專利權）人： | 劉沖 |
| 主分類號： | 10-05 | 分類號： | 10-05 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 100176 北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體器件 測試 系統 | ||
【說明書】：
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