[外觀設(shè)計(jì)]半導(dǎo)體器件測(cè)試系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201630149078.X | 申請(qǐng)日： | 2016-04-28 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN303957957S | 公開（公告）日： | 2016-12-07 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 劉沖;李潔;闞勁松 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 劉沖 |
| 主分類號(hào)： | 10-05 | 分類號(hào)： | 10-05 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 100176 北*** | 國(guó)省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 半導(dǎo)體器件 測(cè)試 系統(tǒng) | ||
【權(quán)利要求書】：
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