[實用新型]一種ADC動態測試系統有效
| 申請號: | 201621109047.2 | 申請日: | 2016-10-10 |
| 公開(公告)號: | CN206412999U | 公開(公告)日: | 2017-08-15 |
| 發明(設計)人: | 汪偉;吳忠潔;婁方超;蔣醒元;張波 | 申請(專利權)人: | 上海靈動微電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H03M1/10 | 分類號: | H03M1/10 |
| 代理公司: | 上海碩力知識產權代理事務所31251 | 代理人: | 郭桂峰 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 adc 動態 測試 系統 | ||
技術領域
本實用新型涉及ADC動態性能測試控制領域,尤指一種ADC動態測試系統。
背景技術
隨著工、農業的發展,多路數據采集勢必將得到越來越多的應用,為適應這一趨勢,作這方面的研究就顯得十分重要。總之,不論在哪個應用領域中,數據采集與處理將直接影響工作效率和所取得的經濟效益。數據采集系統,從嚴格的意義上來說,應該是用計算機控制的多路數據自動檢測或巡回檢測,并且能夠對數據實行存儲、處理、分析計算以及從檢測的數據中提取可用的信息,供顯示、記錄、打印或描繪的系統。
在數據采集系統中,ADC(Analog-to-Digital Converter)即模擬/數字轉換器是模擬量與數字量接口的關鍵部件。現實世界中的信號,如溫度、聲音、無線電波、或者圖像等,都是模擬信號,需要轉換成容易儲存、進行編碼、壓縮、或濾波等處理的數字形式,模擬/數字轉換器正是為此而誕生,發揮出不可替代的作用。目前,隨著數字處理技術的飛速發展,在通訊、消費電器、工業與醫療儀器以及軍工產品中,對高速ADC的需求越來越多。高速ADC的動態測試是進行ADC研究、新產品試制和開發,以及ADC生產與應用中不可缺少的一個重要手段。ADC的性能好壞直接影響整個系統指標的高低和性能好壞,從而使得ADC的性能測試變得十分重要。高速、高精度、低功耗、多通道是ADC未來的發展趨勢。對于高速ADC來說,其動態特性格外重要,動態特性包括很多,如信噪比(SNR)、信噪諧波比(SINAD)、有效位數(ENOB)、總諧波失真(THD)等。因而精確地測試ADC的動態指標成為非常有意義的工作。對于實時信號處理機而言,ADC模塊單元的大動態范圍、高信噪比等顯得尤為重要,這些性能將直接影響到后續的信號處理和檢測。因此利用實時信號處理機本身的硬件平臺,通過軟件編程來實現對ADC的測試是一種高效、高精度的方法。
在現有技術中,目前ADC測試的方法主要分為靜態測試和動態測試兩種。其中靜態測試可以利用主機和DAC(數字模擬轉換器)配合ADC 單次轉換來保證測試中的每個LSB的變化。其中動態測試目前基本都是利用函數信號發生器來產生正弦波,通過ADC采集正弦波的值進行測試,采用是用邏輯分析儀進行數據抓取。但是在現有技術存在以下兩個問題:
1、ADC靜態測試不能反映ADC的動態特性,而且隨著ADC的采集速度越來越快,不能實時抓取采集的數據。
2、ADC動態測試利用邏輯分析儀進行數據抓取,分析數據非常費時費力,很容易丟數據。
3、高速ADC速度快導致數據實時存儲困難,需要很多管腳的問題。
因而,如何解決現有ADC測試中高速ADC速度快導致數據實時存儲困難的問題和需要很多管腳的問題,是目前本領域技術人員亟待解決的技術問題。
實用新型內容
本實用新型的目的是提供一種ADC動態測試系統,實現解決現有ADC測試中高速ADC速度快導致數據實時存儲困難的問題和需要很多管腳的問題。為了達到上述目的,本實用新型提供的技術方案如下:
一種ADC動態測試系統包括:ADC裝置、測試控制裝置和SRAM存儲裝置;其中,
所述ADC裝置與測試控制裝置通訊連接,接收模擬測試信號,根據預設的采樣頻率采樣抓取所述模擬測試信號得到待測試數據,將所述待測試數據發送至所述測試控制裝置;
所述測試控制裝置與所述SRAM存儲裝置通訊連接,接收所述ADC裝置發送的所述待測試數據,對所述待測試數據進行測試得到測試結果數據,將所述測試結果數據進行轉換得到轉換數據,將所述轉換數據發送至所述SRAM存儲裝置,并發送控制指令至所述SRAM存儲裝置;
所述SRAM存儲裝置接收所述測試控制裝置發送的所述轉換數據,并存儲所述轉換數據,根據所述控制指令將存儲的所述轉換數據發送至所述測試控制裝置。
本實用新型利用MCU(Micro Controller Unit,中文名稱為微控制單元)和 SRAM(Static Random Access Memory,即靜態隨機存取存儲器,它是一種具有靜止存取功能的內存,不需要刷新電路即能保存它內部存儲的數據)可構成簡便且準確的測試系統,在ADC電路的后端利用SRAM將輸出的測試結果數據采集保存起來,能夠實現ADC高速采集數據并同時實時存儲數據的目的,又不需要很多管腳,可以很好的解決管腳少且進行高速ADC動態測試以及數據存儲問題。
進一步,所述ADC裝置包括:采樣器、轉換器;
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