[實用新型]一種ADC動態測試系統

有效

• 申請號: 201621109047.2
• 申請日: 2016-10-10
• 公開（公告）號: CN206412999U
• 公開（公告）日: 2017-08-15
• 發明（設計）人: 汪偉;吳忠潔;婁方超;蔣醒元;張波
• 申請（專利權）人: 上海靈動微電子股份有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所31251
• 代理人: 郭桂峰

1.一種ADC動態測試系統，其特征在于，包括：ADC裝置、測試控制裝置和SRAM存儲裝置；其中，

所述ADC裝置與測試控制裝置通訊連接，接收模擬測試信號，根據預設的采樣頻率采樣抓取所述模擬測試信號得到待測試數據，將所述待測試數據發送至所述測試控制裝置；

所述測試控制裝置與所述SRAM存儲裝置通訊連接，接收所述ADC裝置發送的所述待測試數據，對所述待測試數據進行測試得到測試結果數據，將所述測試結果數據進行轉換得到轉換數據，將所述轉換數據發送至所述SRAM存儲裝置，并發送控制指令至所述SRAM存儲裝置；

所述SRAM存儲裝置接收所述測試控制裝置發送的所述轉換數據，并存儲所述轉換數據，根據所述控制指令將存儲的所述轉換數據發送至所述測試控制裝置。

2.根據權利要求1所述的ADC動態測試系統，其特征在于，所述ADC裝置包括：采樣器、轉換器；

所述采樣器與所述轉換器通訊連接，根據所述預設的采樣頻率對所述模擬測試信號進行抓取采樣，將所述采樣的模擬測試信號發送至所述轉換器；

所述轉換器與所述測試控制裝置通訊連接，接收所述采樣器發送的所述采樣的模擬測試信號，將所述采樣的模擬測試信號進行轉換得到所述待測試數據，將所述待測試數據進行特殊處理得到處理后的待測試數據，并將所述處理后的待測試數據發送至所述測試控制裝置；

其中，所述特殊處理是將所述待測試數據在數據的最高位和最低位處分別添加特殊字符。

3.根據權利要求2所述的ADC動態測試系統，其特征在于，所述測試控制裝置包括：測試器、控制器；

所述測試器分別與所述轉換器和控制器通訊連接，接收所述轉換器發送的所述處理后的待測試數據，對所述處理后的待測試數據進行測試得到測試結果數據，發送所述測試結果數據至所述控制器；

所述控制器與SRAM存儲裝置通訊連接，接收所述測試器發送的所述測試結果數據，對所述測試結果數據進行轉換處理得到轉換數據，發送所述轉換數據至所述SRAM存儲裝置。

4.根據權利要求1所述的ADC動態測試系統，其特征在于，所述SRAM存儲裝置包括：同步時鐘、儲存器；

所述同步時鐘與所述測試控制裝置通訊連接，通過串行外設接口接收所述測試控制裝置發送的所述轉換數據，輸入與預設的數據傳輸頻率同源的時鐘信號，預設讀寫時隙；

所述儲存器分別與所述同步時鐘和所述測試控制裝置通訊連接，通過數據接收端，同步接收所述測試控制裝置發送的所述轉換數據，將所述轉換數據按照預設的讀寫時隙進行儲存，并根據所述測試控制裝置發送的所述控制指令將存儲的所述轉換數據發送至所述測試控制裝置。

5.根據權利要求4所述的ADC動態測試系統，其特征在于，所述儲存器還包括：存儲單元、封裝單元；

所述存儲單元通過串行外設接口與所述測試控制裝置通訊連接，接收所述測試控制裝置發送的所述轉換數據，并將所述轉換數據按照預設的讀寫時隙進行儲存；

所述封裝單元與所述存儲單元通訊連接，將所述存儲的轉換數據根據時間先后順序進行封裝處理得到任意多個封裝數據包，并將所述封裝數據包發送至所述測試控制裝置。

6.根據權利要求5所述的ADC動態測試系統，其特征在于，還包括：信號發生裝置和分析顯示儀；

所述信號發生裝置與所述ADC裝置通信連接，產生所述模擬測試信號，根據預設的信號輸入頻率輸入所述模擬測試信號至所述ADC裝置；

所述分析顯示儀與所述測試控制裝置通訊連接，接收所述測試控制裝置發送的所述測試結果數據，并對所述測試結果數據進行分析顯示。

7.根據權利要求6所述的ADC動態測試系統，其特征在于：

所述測試控制裝置分別與所述SRAM存儲裝置和所述分析顯示儀通訊連接，接收所述封裝單元發送的所述封裝數據包，將所述封裝單元發送的所述封裝數據包發送至所述測試控制裝置進行轉換得到測試結果數據，將所述測試結果數據發送至所述分析顯示儀。

8.根據權利要求2所述的ADC動態測試系統，其特征在于：

所述測試控制裝置與所述采樣器通訊連接，判斷信號采樣周期是否達到預設的采集周期，當是則控制所述采樣器停止采集測試信號；否則繼續進行采集。