[實用新型]一種基于干涉光的厚度對比裝置有效
| 申請號: | 201621102292.0 | 申請日: | 2016-10-07 |
| 公開(公告)號: | CN206131997U | 公開(公告)日: | 2017-04-26 |
| 發明(設計)人: | 劉敬壽;丁文龍;楊海盟 | 申請(專利權)人: | 中國地質大學(北京) |
| 主分類號: | G01B11/06 | 分類號: | G01B11/06 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 干涉 厚度 對比 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及工程測量、質量檢測領域,尤其是一種基于干涉光的厚度對比裝置。
背景技術
在工程測量、質量檢測領域,往往需要對物體的厚度檢測、對比,每種產品對厚度誤差不一,采用傳統的直尺測量的方法,往往很難達到某些產品的質量要求,在工程測量中,同樣存在這樣的問題,例如,在巖石磨片中,需要對每臺儀器的磨片厚度需要檢測,該過程同樣對厚度監測的儀器有較高的要求。
實用新型內容
本實用新型旨在解決上述問題,提供了一種基于干涉光的厚度對比裝置,該裝置能夠區別物體厚度的微觀差異,采用的技術方案如下:
一種基于干涉光的厚度對比裝置,包括支架、測量縫、轉動軸承、固定架、透光單縫、雙縫、遮光筒、接光屏、攝像頭、濾光片、光源、測量物體,所述的測量縫包括固定片、測量片;所述的透光單縫包括固定縫、同步旋轉縫;所述的透光單縫、雙縫、遮光筒、接光屏、攝像頭、濾光片、光源在一條直線上;所述的固定片、固定縫、固定架、透光單縫、雙縫、遮光筒、接光屏、攝像頭、濾光片、光源固定在支架上;所述的攝像頭位于接光屏一端。
在上述技術方案基礎上,所述的測量片、同步旋轉縫與轉動軸承連接,測量片、同步旋轉縫可以繞轉動軸承同步旋轉。
本實用新型具有如下優點:設計合理,使用方便,能精確比較不同物體的厚度差異,簡單易學,攜帶方便。
附圖說明
附圖為本實用新型的立體結構示意圖;
圖中:1.支架,2.測量縫,3.轉動軸承,4.固定架,5.透光單縫,6.雙縫,7.遮光筒,8.接光屏,9.攝像頭,10.濾光片,11.光源,12.測量物體;2-1.固定片,2-2.測量片;5-1.固定縫,5-2.同步旋轉縫。
具體實施方式
下面結合附圖對本實用新型作進一步說明:
附圖所示,一種基于干涉光的厚度對比裝置,包括支架1、測量縫2、轉動軸承3、固定架4、透光單縫5、雙縫6、遮光筒7、接光屏8、攝像頭9、濾光片10、光源11、測量物體12,所述的測量縫2包括固定片2-1、測量片2-2;所述的透光單縫5包括固定縫5-1、同步旋轉縫5-2;所述的透光單縫5、雙縫6、遮光筒7、接光屏8、攝像頭9、濾光片10、光源11在一條直線上;所述的固定片2-1、固定縫5-1、固定架4、透光單縫5、雙縫6、遮光筒7、接光屏8、攝像頭9、濾光片10、光源11固定在支架1上;所述的攝像頭9位于接光屏8一端,可以直接對接光屏8的色譜進行拍照。
優選的是,所述的測量片2-2、同步旋轉縫5-2與轉動軸承3連接,測量片2-2、同步旋轉縫5-2可以繞轉動軸承3同步旋轉。
在使用時,首先將光源11打開,將厚度監測的物體放置在固定片2-1、測量片2-2之間,光線通過濾光片10、固定縫5-1、同步旋轉縫5-2、雙縫6、遮光筒7將干涉光投射到接光屏8上,用攝像頭9直接對接光屏8的干涉光進行拍照,記錄不同的厚度的物體所對應的偏振光的變化,比較不同物體之間的厚度差異。
上面以舉例方式對本實用新型進行了說明,但本實用新型不限于上述具體實施例,凡基于本實用新型所做的任何改動或變型均屬于本實用新型要求保護的范圍。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國地質大學(北京),未經中國地質大學(北京)許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201621102292.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種用于縫紉機的電磁鐵
- 下一篇:一種自動充磁機





