[實用新型]一種基于干涉光的厚度對比裝置

有效

• 申請號: 201621102292.0
• 申請日: 2016-10-07
• 公開（公告）號: CN206131997U
• 公開（公告）日: 2017-04-26
• 發明（設計）人: 劉敬壽;丁文龍;楊海盟
• 申請（專利權）人: 中國地質大學（北京）
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于干涉光的厚度對比裝置，由支架(1)、測量縫(2)、轉動軸承(3)、固定架(4)、透光單縫(5)、雙縫(6)、遮光筒(7)、接光屏(8)、攝像頭(9)、濾光片(10)、光源(11)、測量物體(12)組成，所述的測量縫(2)包括固定片(2-1)、測量片(2-2)；所述的透光單縫(5)包括固定縫(5-1)、同步旋轉縫(5-2)；所述的透光單縫(5)、雙縫(6)、遮光筒(7)、接光屏(8)、攝像頭(9)、濾光片(10)、光源(11)在一條直線上；所述的固定片(2-1)、固定縫(5-1)、固定架(4)、透光單縫(5)、雙縫(6)、遮光筒(7)、接光屏(8)、攝像頭(9)、濾光片(10)、光源(11)固定在支架(1)上；所述的攝像頭(9)位于接光屏(8)一端，可以直接對接光屏（8）的色譜進行拍照。

2.根據權利要求1所述的一種基于干涉光的厚度對比裝置，其特征在于：所述的測量片(2-2)、同步旋轉縫(5-2)與轉動軸承(3)連接，測量片(2-2)、同步旋轉縫(5-2)可以繞轉動軸承(3)同步旋轉。