[實用新型]一種可靠性測試結構有效
| 申請號： | 201620831432.1 | 申請日： | 2016-08-02 |
| 公開（公告）號： | CN205900538U | 公開（公告）日： | 2017-01-18 |
| 發明（設計）人： | 趙祥富 | 申請（專利權）人： | 中芯國際集成電路制造（北京）有限公司;中芯國際集成電路制造（上海）有限公司 |
| 主分類號： | H01L23/544 | 分類號： | H01L23/544 |
| 代理公司： | 上海光華專利事務所31219 | 代理人： | 王華英 |
| 地址： | 100176 北京市大興*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 可靠性 測試 結構 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中芯國際集成電路制造（北京）有限公司;中芯國際集成電路制造（上海）有限公司，未經中芯國際集成電路制造（北京）有限公司;中芯國際集成電路制造（上海）有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201620831432.1/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：帶溫度傳感器的場效應晶體管三相橋模塊
- 下一篇：場效應晶體管三相橋模塊
- 同類專利
- 專利分類
