[實用新型]拉伸?四點(diǎn)彎曲預(yù)載荷下納米壓痕測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201620779522.0 | 申請日： | 2016-07-25 |
| 公開（公告）號： | CN205981862U | 公開（公告）日： | 2017-02-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 崔利娜;尤元;關(guān)常君;邵珠超;李瑞 | 申請（專利權(quán)）人： | 長春工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號： | G01N3/02 | 分類號： | G01N3/02 |
| 代理公司： | 長春市四環(huán)專利事務(wù)所(普通合伙)22103 | 代理人： | 郭耀輝 |
| 地址： | 130012 吉*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 拉伸 四點(diǎn) 彎曲 載荷 納米 壓痕 測試 裝置 | ||
【說明書】：
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