[實用新型]拉伸?四點彎曲預載荷下納米壓痕測試裝置有效
| 申請號： | 201620779522.0 | 申請日： | 2016-07-25 |
| 公開（公告）號： | CN205981862U | 公開（公告）日： | 2017-02-22 |
| 發明（設計）人： | 崔利娜;尤元;關常君;邵珠超;李瑞 | 申請（專利權）人： | 長春工業大學 |
| 主分類號： | G01N3/02 | 分類號： | G01N3/02 |
| 代理公司： | 長春市四環專利事務所(普通合伙)22103 | 代理人： | 郭耀輝 |
| 地址： | 130012 吉*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 拉伸 四點 彎曲 載荷 納米 壓痕 測試 裝置 | ||
【權利要求書】：
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