[實用新型]一種單層片式瓷介電容器高頻S參數測試夾具有效
| 申請號: | 201620159856.8 | 申請日: | 2016-03-03 |
| 公開(公告)號: | CN205384297U | 公開(公告)日: | 2016-07-13 |
| 發明(設計)人: | 劉劍林;韓玉成;潘甲東;張烽;嚴勇;王利凱;溫占福;尚超紅;魏栩曼;孫鵬遠 | 申請(專利權)人: | 中國振華集團云科電子有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙) 11411 | 代理人: | 鄭自群 |
| 地址: | 550018 貴州省*** | 國省代碼: | 貴州;52 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 單層 片式瓷介 電容器 高頻 參數 測試 夾具 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種電容測試夾具,具體地說涉及一種單層片式瓷介電容器高頻S參數測試夾具。
背景技術
單層片式瓷介電容器具有體積小、型號多、應用頻率高等特點,廣泛應用在電子對抗、雷達、導航、制導和衛星通訊等方面。用戶或設計師在選用時比較關注單層片式瓷介電容器的高頻性能,這就要求單層片式瓷介電容器生產廠家對不同型號的產品進行高頻性能測量和監控。然而,單層片式瓷介電容器高頻S參數測量精確一直是個難點,業內還沒統一的測試方法以及測試的設備。
實用新型內容
本實用新型要解決的技術問題是提供一種單層片式瓷介電容器高頻S參數測試夾具,滿足不同型號尺寸的單層片式瓷介電容器高頻S參數測量,解決單層片式瓷介電容器專業生產難題。
為實現上述目的,本實用新型提供一種單層片式瓷介電容器高頻S參數測試夾具,包括夾具主體和底座,所述底座上設有上壓板和下壓板,所述上壓板設有第一連接器和彈性傳輸線,所述第一連接器連接所述彈性傳輸線;所述下壓板設有測試載片和第二連接器,所述測試載片與所述第二連接器連接;所述上壓板與壓塊連接;所述壓塊通過導軌與手柄連接。
優選地,所述測試載片數量為5個,型號各不相同,5組測試分夾具滿足不同型號尺寸的單層片式瓷介電容器高頻S參數測量。
優選地,所述第一連接器和第二數連接器的數量各為5個,滿足不同電容測量時候連接方便。
本實用新型的有益效果是:1、應用廣泛、方便使用,5組測試分夾具滿足不同型號尺寸的單層片式瓷介電容器高頻S參數測量。2、采用TRL校準,把參考面校準到待測件兩端保證測試精確;3、采用垂直下壓模式定位產品,測試重復性好;測試精度高,重復性好。
附圖說明
附圖用來提供對本實用新型的進一步理解,并且構成說明書的一部分,與本實用新型的實施例一起用于解釋本實用新型,并不構成對本實用新型的限制。在附圖中:
圖1為本實用新型單層片式瓷介電容器高頻S參數測試夾具的立體圖;
圖2為本實用單層片式瓷介電容器高頻S參數測試夾具的局部放大圖;
圖3為為本實用新型單層片式瓷介電容器高頻S參數測試夾具使用示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型的優選實施例進行說明,應當理解,此處所描述的優選實施例僅用于說明和解釋本實用新型,并不用于限定本實用新型。
如圖1至圖2所示,本實用新型一種單層片式瓷介電容器高頻S參數測試夾具,包括夾具主體1和底座2,所述底座2上設有上壓板3和下壓板4,所述上壓板3設有第一連接器5和彈性傳輸線6,所述第一連接器5連接所述彈性傳輸線6;所述下壓板4設有測試載片7和第二連接器55,所述測試載片7與所述第二連接器55連接;所述上壓板3與壓塊8連接;所述壓塊8通過導軌9與手柄10連接。
測試不同尺寸規格的電容器時,只需要把相應的載片旋轉至面前把待測件直接放在測試載片上,拉動手柄,使得壓塊下沉,壓塊下部有彈性的彈性傳輸線就可以把待測件壓緊在測試載片上,不需要螺釘固定或焊接,同時完成射頻連接。
測試載片數量為5個型號各不相同,為了與測試載片對應連接,所述第一連接器和第二數連接器的數量各為5個;5組測試分夾具滿足不同型號尺寸的單層片式瓷介電容器高頻S參數測量。
具體使用的操作步驟如下(如圖2和圖3所示):
第1步:測量校準:確定產品尺寸,選擇校準件(open、short和through校準件)對網絡分析儀進行校準,查看through狀態,是否校準好。
第2步:抬起手柄,選擇合適的分夾具,將待測產品放置到對應測試分夾具的載片中間位置。
第3步:用接在網絡分析儀端口電纜連接至測試分夾具端口,固定好。
第4步:進行單層片式瓷介電容器高頻S參數測量,從網絡分析儀上讀取S參數;
第5步:保存測得S參數數據或S2P文件。
對該實用新型結構描述:
該結構的設計主要由以下2個方面考慮:
1、方便使用
因為客戶所需測試的產品涉及到大量的試驗和篩選,因此要求待測件在夾具上的連接方便快捷,不能使用螺釘固定或焊接。該結構可以把待測件直接放在測試載片上,拉動手柄,使得壓塊下沉,壓塊下部有彈性的彈性傳輸線就可以把待測件壓緊在測試載片上,同時完成射頻連接。因待測電容尺寸種類較多,本方案設定5種規格尺寸的載片覆蓋全部尺寸范圍的芯片測試。測試不同尺寸規格的電容時,只需要把相應的載片旋轉至面前和待測件的連接處參見圖3。
2、測試精確,重復性
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