[實用新型]一種單層片式瓷介電容器高頻S參數測試夾具

有效

• 申請號: 201620159856.8
• 申請日: 2016-03-03
• 公開（公告）號: CN205384297U
• 公開（公告）日: 2016-07-13
• 發明（設計）人: 劉劍林;韓玉成;潘甲東;張烽;嚴勇;王利凱;溫占福;尚超紅;魏栩曼;孫鵬遠
• 申請（專利權）人: 中國振華集團云科電子有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙) 11411
• 代理人: 鄭自群

1.一種單層片式瓷介電容器高頻S參數測試夾具，包括夾具主體(1)和底座(2),其特征在于：所述底座(2)上設有上壓板(3)和下壓板(4)，所述上壓板(3)設有第一連接器(5)和彈性傳輸線(6)，所述第一連接器(5)連接所述彈性傳輸線(6)；所述下壓板(4)設有測試載片(7)和第二連接器(55)，所述測試載片(7)與所述第二連接器(55)連接；所述上壓板(3)與壓塊(8)連接；所述壓塊(8)通過導軌(9)與手柄(10)連接。

2.根據權利要求1所述單層片式瓷介電容器高頻S參數測試夾具，其特征在于，所述測試載片(7)數量為5個，型號各不相同。

3.根據權利要求2所述單層片式瓷介電容器高頻S參數測試夾具，其特征在于，所述第一連接器(5)和第二數連接器(55)的數量各為5個。