[實用新型]一種顯示面板測試裝置及測試系統

有效

• 申請號: 201620075711.X
• 申請日: 2016-01-25
• 公開（公告）號: CN205333996U
• 公開（公告）日: 2016-06-22
• 發明（設計）人: 吳海龍;周焱;毛大龍;但藝;雷嗣軍;張智;侯帥;肖利軍;林匯哲
• 申請（專利權）人: 重慶京東方光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

技術領域

本實用新型涉及顯示技術領域，尤其涉及一種顯示面板測試裝置 及測試系統。

背景技術

在制作TFT-LCD(ThinFilmTransistorLiquidCrystalDisplay， 薄膜晶體管-液晶顯示器)的過程中，當陣列基板和彩膜基板對盒之 后，需要對對盒后的顯示面板的顯示性能進行檢測。

現有技術中，在對顯示面板進行檢測時，通常會在如圖1所示的 顯示面板10的非顯示區域01上設置測試端口100(CellTestPad)。 然后，將測試裝置上的每一個測試探針200與測試端口100一一對應， 并將測試探針200按壓于測試端口100上，從而使得測試裝置輸入的 測試信號能夠通過測試觸電輸出至顯示面板10內，以對顯示面板進 行檢測。

由于顯示面板10的分辨率各有不同，從而導致顯示區域01中的 像素單元101的寬度H不同，而測試裝置上的每一個測試探針200 需要與測試端口100一一對應才能夠實現檢測。因此測試裝置上相鄰 兩個測試探針200之間的間距(pinpitch)a需要與被測試的顯示面 板10中像素單元101的寬度H相匹配。這樣一來，為了能夠對不同 規格的顯示面板10進行測試，需要購買多種規格的測試裝置以滿足 不同的需求，從而導致制作成本的上升。

實用新型內容

本實用新型的實施例提供一種顯示面板測試裝置及測試系統，能 夠對多種規格的顯示面板進行檢測。

為達到上述目的，本實用新型的實施例采用如下技術方案：

本實用新型實施例的一方面，提供一種顯示面板測試裝置，包括 探針組件、控制器和多個控制開關。所述探針組件包括M個測試探 針，M＞1，為正整數，顯示面板上的任意一個測試端口至少對應一 個所述測試探針。每一個所述測試探針通過一個控制開關與所述控制 器相連接，所述測試探針用于在所述控制器開啟所述控制開關時，接 收所述控制器輸出的測試信號。

優選的，所述控制開關為電子開關。

優選的，所述控制開關為晶體管，所述晶體管的柵極和第一極連 接所述控制器，第二極與所述測試探針相連接。

優選的，所述晶體管為N型或P型晶體管。

優選的，所述晶體管為增強型或耗盡型晶體管。

優選的，所述控制器包括數據處理器，用于計算出顯示面板中像 素單元的寬度H與相鄰兩個測試探針之間的間距a以及測試探針寬 度b之間的關系。

優選的，所述數據處理器計算出的顯示面板中像素單元的寬度H 與相鄰兩個測試探針之間的間距a以及測試探針寬度b之間的關系為 H＝3a+3b。

優選的，所述數據處理器計算出的顯示面板中像素單元的寬度H 與相鄰兩個測試探針之間的間距a以及測試探針寬度b之間的關系為 H＝2a+2b。

進一步優選的，相鄰兩個測試探針之間的間距a為3μm～4μm， 測試探針的寬度b為2.5μm～3.5μm；a≥b。

優選的，所述探針組件還包括用于連接顯示面板上公共電壓端的 公共電壓探針。

進一步優選的，所述公共電壓探針位于所述探針組件中第一個測 試探針之前，或者位于所述探針組件中最后一個測試探針之后。

優選的，所述顯示面板包括橫縱交叉的柵線和數據線；所述測試 端口通過引線與所述柵線和/或所述數據線相連接。

優選的，所述顯示面板上的任意一個測試端口至少對應兩個所述 測試探針，以使得所述控制器開啟所述控制開關時，與所述測試端口 相連接的至少兩個所述測試探針均接收所述控制器輸出的測試信號。

本實用新型的另一方面，提供一種測試系統，包括上述所述的任 意一種顯示面板測試裝置。

優選的，還包括圖像采集裝置，用于對所述顯示面板顯示的測試 圖像進行采集。

進一步優選的，所述圖像采集裝置包括CCD或CMOS攝像機。

本實用新型提供一種顯示面板測試裝置及測試系統，所述顯示面 板包括探針組件、控制器和多個控制開關。其中，探針組件包括M 個測試探針，M＞1，為正整數。此外，顯示面板上的任意一個測試 端口至少對應一個測試探針，且每一個測試探針通過一個控制開關與 控制器相連接，測試探針用于在控制器開啟控制開關時，接收控制器 輸出的測試信號。