[實(shí)用新型]一種顯示面板測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201620075711.X
• 申請(qǐng)日: 2016-01-25
• 公開（公告）號(hào): CN205333996U
• 公開（公告）日: 2016-06-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳海龍;周焱;毛大龍;但藝;雷嗣軍;張智;侯帥;肖利軍;林匯哲
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 重慶京東方光電科技有限公司;京東方科技集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于，包括探針組件、控制器 和多個(gè)控制開關(guān)；

所述探針組件包括M個(gè)測(cè)試探針，M＞1，為正整數(shù)；顯示面板上 的任意一個(gè)測(cè)試端口至少對(duì)應(yīng)一個(gè)所述測(cè)試探針；

每一個(gè)所述測(cè)試探針通過(guò)一個(gè)控制開關(guān)與所述控制器相連接，所 述測(cè)試探針用于在所述控制器開啟所述控制開關(guān)時(shí)，接收所述控制器 輸出的測(cè)試信號(hào)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于，所述 控制開關(guān)為電子開關(guān)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于，所述 控制開關(guān)為晶體管；

所述晶體管的柵極和第一極連接所述控制器，第二極與所述測(cè)試 探針相連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于，所述 晶體管為N型或P型晶體管。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于，所述 晶體管為增強(qiáng)型或耗盡型晶體管。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于，所述 控制器包括數(shù)據(jù)處理器，用于計(jì)算出顯示面板中像素單元的寬度H與 相鄰兩個(gè)測(cè)試探針之間的間距a以及測(cè)試探針寬度b之間的關(guān)系。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于，所述 數(shù)據(jù)處理器計(jì)算出的顯示面板中像素單元的寬度H與相鄰兩個(gè)測(cè)試探 針之間的間距a以及測(cè)試探針寬度b之間的關(guān)系為H＝3a+3b。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于，所述 數(shù)據(jù)處理器計(jì)算出的顯示面板中像素單元的寬度H與相鄰兩個(gè)測(cè)試探 針之間的間距a以及測(cè)試探針寬度b之間的關(guān)系為H＝2a+2b。

9.根據(jù)權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的顯示面板測(cè)試裝置，相鄰兩個(gè) 測(cè)試探針之間的間距a為3μm～4μm，測(cè)試探針的寬度b為2.5μm～3.5 μm；a≥b。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于，所 述探針組件還包括用于連接顯示面板上公共電壓端的公共電壓探針。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于，所 述公共電壓探針位于所述探針組件中第一個(gè)測(cè)試探針之前，或者位于 所述探針組件中最后一個(gè)測(cè)試探針之后。

12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于，所 述顯示面板包括橫縱交叉的柵線和數(shù)據(jù)線；所述測(cè)試端口通過(guò)引線與 所述柵線和/或所述數(shù)據(jù)線相連接。

13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于，所 述顯示面板上的任意一個(gè)測(cè)試端口至少對(duì)應(yīng)兩個(gè)所述測(cè)試探針，以使 得所述控制器開啟所述控制開關(guān)時(shí)，與所述測(cè)試端口相連接的至少兩 個(gè)所述測(cè)試探針均接收所述控制器輸出的測(cè)試信號(hào)。

14.一種測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括顯示面板以及如權(quán)利要求 1-13任一項(xiàng)所述的顯示面板測(cè)試裝置。

15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括圖像 采集裝置，用于對(duì)所述顯示面板顯示的測(cè)試圖像進(jìn)行采集。

16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述圖像采 集裝置包括CCD或CMOS攝像機(jī)。