[實用新型]一種內(nèi)存高溫測試箱有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201620058144.7 | 申請日： | 2016-01-21 |
| 公開（公告）號： | CN205301215U | 公開（公告）日： | 2016-06-08 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 徐亮一;邵剛 | 申請（專利權(quán)）人： | 浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N25/00 | 分類號： | G01N25/00 |
| 代理公司： | 濟南信達(dá)專利事務(wù)所有限公司 37100 | 代理人： | 國建全 |
| 地址： | 250101 山東*** | 國省代碼： | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 內(nèi)存 高溫 測試 | ||
1.一種內(nèi)存高溫測試箱，包括測試箱體、具有測試主板的測試平臺、以及連接測試平臺和外部顯示器的KVM切換器，所述測試主板具有電源電路和插入待測內(nèi)存的插槽，插槽的電源引腳與電源電路連接以從電源電路接收電壓，其特征在于，所述測試箱體被分割成至少兩個互不連通的測試空間，所述測試平臺為抽屜式結(jié)構(gòu)，抽屜式結(jié)構(gòu)的測試平臺配合插入或拔出測試箱體的測試空間，且在測試平臺配合插入測試箱體的測試空間時，測試平臺和測試空間圍成密封的測試環(huán)境。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種內(nèi)存高溫測試箱，其特征在于，所述測試平臺完全插入測試空間時裸露在外的表面設(shè)置有把手。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種內(nèi)存高溫測試箱，其特征在于，所述測試箱體通過三塊隔板分割成四個測試空間，測試平臺的數(shù)量為四個，四個測試平臺與四個測試空間一一對應(yīng)并水平插入或拔出測試空間。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種內(nèi)存高溫測試箱，其特征在于，所述測試主板上設(shè)置有至少一個插入待測內(nèi)存的插槽，每個插槽的電源引腳分別與電源電路連接以從電源電路接收電壓。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司，未經(jīng)浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201620058144.7/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
