[發明專利]確定表面缺陷的方法和計算機程序產品

在審

• 申請號: 201611273021.6
• 申請日: 2016-12-30
• 公開（公告）號: CN106932401A
• 公開（公告）日: 2017-07-07
• 發明（設計）人: 雷恩·澤姆里奇;弗萊德海姆·卡斯特爾
• 申請（專利權）人: 佛吉亞內飾系統有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01B21/30
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司11127
• 代理人: 呂俊剛,楊薇

技術領域

本發明涉及確定表面缺陷的方法，并且特別地涉及確定由塑料制成的內襯部件(inner lining part)的表面上的缺陷的方法和計算機程序產品。

背景技術

從DE202009034466A1中已知一種確定表面缺陷的方法。

發明內容

本發明的目的是，提供一種用于確定表面缺陷的方法，通過該方法，可以以有效和可靠的方式來確定表面缺陷。

本發明的另外目的是，提供一種計算機程序產品，在該計算機程序產品中，具有根據本發明的方法的步驟。

該目標通過權利要求1的特征來解決。通過與權利要求1相關的從屬權利要求給出另外的實施方式。

根據本發明，特別地提供了一種用于確定內襯部件的表面缺陷的方法，該方法基于用于表面的標稱形式的第一近似函數，這表示標稱表面或該表面的發展(progression)形狀，并且該方法包括以下步驟：

(a)通過表面測量裝置，在內襯部件的副本的實際表面上處，確定沿著彼此延展并且彼此相距一定距離的多行實際點的實際值數據集，其中，分別在如下項中執行所述確定：在具有沿著所述標稱表面的或所述實際表面的延伸的兩個方向的空間坐標中；和在相對于所述延伸的方向上延伸橫向地延展的高度坐標中，

(b)確定實際參考點的實際參考行，所述實際參考點沿著所述多行實際點延展，其中，所述實際參考點分別包括：所述多行實際點的實際點序列的各自實際點的高度坐標值的平均值，其中，所述多行實際點在偏離所述主方向的方向上延伸，

(c)形成第二近似函數，所述第二近似函數作為所述實際參考行的實際參考點的發展的近似，

(d)根據所述第一近似函數和所述第二近似函數來形成標準曲線，并通過應用于所述標準曲線的標準來確定表面缺陷。

對于步驟(a)，可以規定，實際點的相應序列可以分別特別地位于：在主方向上彼此相繼(sequence)并且相對于主方向橫向地延展的識別部分或平均橫截面中。

對于步驟(a)的執行可以規定：

-在第一步驟中，通過表面測量裝置，在內襯部件的副本的實際表面處，執行確定實際點的實際值數據集，

-在第二步驟中，執行確定多行實際點，其中所述多行實際點彼此延伸并且彼此相距一定距離，其中所述多行實際點的確定分別如下項中執行：在具有沿著實際表面的延伸的兩個方向的空間坐標中；和相對于所述延伸的方向橫向地延展的高度坐標中，其中實際點的相應序列可以特別地分別位于：在主方向上彼此相繼并且相對于主方向橫向地延伸的識別部分或平均橫截面中。

對于步驟(b)的執行可以特別地規定，執行沿著多行實際點延展的實際參考點的實際參考行的確定，其中實際參考點分別包括：多行實際點的實際點序列的各自實際點的高度坐標值的平均值，其中所述多行實際點相對于所述主方向橫向地延伸。

可以根據相應表面或相應表面的發展的實際形式或標稱形式，來選擇相應的識別部分或平均橫截面。作為示例，可以根據表面的標稱形式的曲率強度，或分別在一個區域中執行測量的數量，來選擇相應的識別部分。另外，可以通過相應表面的實際形式或標稱形式的規則劃分，來確定相應的識別部分，其中相應識別部分的形式可以預先確定。作為示例，在這方面，相應的識別部分通常可以形成為矩形，并且特別地為條形、方形、橢圓形、圓形。

根據所述方法的實施方式，可以規定，第一近似函數被特別地預先確定為與相應表面的實際形式或標稱形式的表面的發展相關，或與在一個區域內分別執行的測量的數量相關。在這方面，作為其替代物，可以規定，針對表面的標稱形式的第一近似函數以如下步驟來確定：

-根據沿著彼此并且沿著主方向延展的多行標稱點，來確定標稱參考點的標稱參考行，所述標稱參考點沿著多行標稱點延展，其中所述標稱參考點分別包括：相對于所述主方向橫向地延伸的標稱點的序列的預定數量的各個標稱點的高度坐標值的平均值，

-形成第一近似函數，所述第一近似函數作為標稱參考行的標稱參考點的發展的近似。在這方面可以規定，相應地，預定數量的標稱點被用于相對于所述主方向橫向地延伸的標稱點的序列，以確定高度坐標值的相應平均值。

組合地或獨立地，可以進一步規定，標稱點的相應序列包括如下標稱點：這些標稱點分別位于表面的平均橫截面中，在主方向上彼此連接，并且相對于主方向橫向地延伸。這表明，平均橫截面可以形成為矩形，并且特別地為條形、方形、橢圓形、或以任何一種其他形式。

第一近似函數的形成可以是：針對標稱參考行的標稱參考點的發展的近似函數。相應的近似函數相應地可以特別地為近似多項式函數。