[發(fā)明專利]確定表面缺陷的方法和計算機(jī)程序產(chǎn)品

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611273021.6
• 申請日: 2016-12-30
• 公開（公告）號: CN106932401A
• 公開（公告）日: 2017-07-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 雷恩·澤姆里奇;弗萊德海姆·卡斯特爾
• 申請（專利權(quán)）人: 佛吉亞內(nèi)飾系統(tǒng)有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01B21/30
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11127
• 代理人: 呂俊剛,楊薇

1.一種用于確定內(nèi)襯部件(1)的實際表面(1a)上的表面缺陷的方法，其中，所述方法基于標(biāo)稱表面(1a)的第一近似函數(shù)(L1)，并且其中，所述方法包括以下步驟：

(a)通過表面測量裝置，在所述內(nèi)襯部件的副本的實際表面處，確定沿著彼此延展并且彼此相距一定距離的多行實際點的實際值數(shù)據(jù)集，其中，分別在如下項中執(zhí)行所述確定：在具有沿著所述標(biāo)稱表面的或所述實際表面的延伸的兩個方向的空間坐標(biāo)中；和在相對于所述延伸的方向橫向地延展的高度坐標(biāo)中，

(b)確定實際參考點的實際參考行，所述實際參考點沿著所述多行實際點延展，其中，所述實際參考點分別包括：所述多行實際點的實際點序列的各自實際點的高度坐標(biāo)值的平均值，其中，所述多行實際點在偏離主方向的方向上延伸，

(c)形成第二近似函數(shù)，所述第二近似函數(shù)作為所述實際參考行的實際參考點的發(fā)展的近似，

(d)根據(jù)所述第一近似函數(shù)和所述第二近似函數(shù)來形成標(biāo)準(zhǔn)曲線，并通過應(yīng)用于所述標(biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)來確定表面缺陷。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述表面(1a)的標(biāo)稱形式的所述第一近似函數(shù)(L1)通過以下步驟來確定：

-根據(jù)沿著彼此并且沿著主方向延展的多行標(biāo)稱點，確定標(biāo)稱參考點的標(biāo)稱參考行(SR)，所述標(biāo)稱參考點沿著所述多行標(biāo)稱點延展，其中，所述標(biāo)稱參考點分別包括：相對于所述主方向橫向地延伸的標(biāo)稱點的序列的各個標(biāo)稱點的高度坐標(biāo)值的平均值，

-形成所述第一近似函數(shù)(L1)，所述第一近似函數(shù)(L1)作為所述標(biāo)稱參考行的標(biāo)稱參考點的發(fā)展的近似。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述第一近似函數(shù)(L1)或所述第二近似函數(shù)(L2)或這些函數(shù)兩者通過以下函數(shù)中的一個或多個來形成：

-近似多項式函數(shù)，

-樣條函數(shù)，

-B樣條函數(shù)，

-非均勻有理B樣條函數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

-其中，通過沿著相應(yīng)主方向的、所述第一近似函數(shù)(L1)的值和所述第二近似函數(shù)(L2)的值之間在彼此對應(yīng)的位置處的差的形成，來產(chǎn)生所述標(biāo)準(zhǔn)曲線，

-其中，識別缺陷的位置，在所述缺陷的所述位置處，作為缺陷標(biāo)準(zhǔn)，除以從沿著相應(yīng)主方向的檢查區(qū)域的長度導(dǎo)出的長度值后的、在沿著所述相應(yīng)主方向的檢查區(qū)域的長度上的差的積分超過預(yù)定閾值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

-其中，通過沿著相應(yīng)主方向的、所述第一近似函數(shù)(L1)的和所述第二近似函數(shù)(L2)的微分函數(shù)(z’_soll(x)，z’_ist(x))的值的、在彼此對應(yīng)的位置處的差的形成，來產(chǎn)生所述標(biāo)準(zhǔn)曲線，

-其中，識別缺陷的位置，在所述缺陷的所述位置處，作為缺陷標(biāo)準(zhǔn)，所述微分函數(shù)的值的差超過預(yù)定閾值。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

-其中，所述標(biāo)準(zhǔn)曲線是根據(jù)所述第一近似函數(shù)(L1)和所述第二近似函數(shù)(L2)的差而得到的差分曲線，

-其中，所述缺陷標(biāo)準(zhǔn)是一閾值，

-其中，通過確定超過所述閾值的偏差，來執(zhí)行表面缺陷的確定。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

-其中，所述標(biāo)準(zhǔn)曲線是根據(jù)所述第一近似函數(shù)(L1)和所述第二近似函數(shù)(L2)的差而得到的差分曲線，

-其中，所述缺陷標(biāo)準(zhǔn)是一閾值，

-其中，通過確定所述第一近似函數(shù)(L1)的導(dǎo)數(shù)和所述第二近似函數(shù)(L2)的導(dǎo)數(shù)之間的偏差，來執(zhí)行表面缺陷的確定，所述偏差超過所述閾值。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述標(biāo)稱點的高度坐標(biāo)分別是網(wǎng)格點的高度坐標(biāo)，所述網(wǎng)格點位于由如下空間坐標(biāo)限定的平面中，所述空間坐標(biāo)具有沿著所述標(biāo)稱表面的延伸的兩個方向。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述實際點的高度坐標(biāo)分別是網(wǎng)格點的高度坐標(biāo)，所述網(wǎng)格點位于如下平面內(nèi)，通過如下空間坐標(biāo)來限定所述平面，所述空間坐標(biāo)具有沿著所述實際表面的延伸的兩個方向。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，用于所述實際點的坐標(biāo)系的姿態(tài)由具有三個實際點的至少三個標(biāo)稱點的近似識別來限定。

11.一種計算機(jī)程序產(chǎn)品，在所述計算機(jī)程序產(chǎn)品中，實施根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法的步驟。