[發(fā)明專利]一種FLASH芯片的測(cè)試系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201611250995.2
• 申請(qǐng)日: 2016-12-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN106653097A
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-05-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙軍委
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 記憶科技（深圳）有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G11C29/56
• 分類(lèi)號(hào): G11C29/56
• 代理公司: 廣東廣和律師事務(wù)所44298
• 代理人: 葉新民

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及FLASH芯片的測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

FLASH芯片的測(cè)試環(huán)節(jié)是FLASH芯片生產(chǎn)中非常重要的環(huán)節(jié)，測(cè)功能測(cè)試、高溫老化測(cè)試和等級(jí)篩選是其中幾個(gè)重要測(cè)試環(huán)節(jié)。目前業(yè)界主要依托先進(jìn)的設(shè)備單獨(dú)對(duì)這幾個(gè)測(cè)試環(huán)節(jié)進(jìn)行測(cè)試。這些測(cè)試設(shè)備主要依靠的是國(guó)外半導(dǎo)體設(shè)備廠家提供，價(jià)格昂貴，且這些環(huán)節(jié)都是獨(dú)立設(shè)置，需要單獨(dú)安排工位，因此整個(gè)測(cè)試周期較長(zhǎng)，效率低的問(wèn)題，無(wú)法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化控制。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)以上缺陷，本發(fā)明目的在于如何提升FLASH芯片測(cè)試的效率和可靠性。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種FLASH芯片的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于包括主控服務(wù)器、老化柜和測(cè)試控制板，所述主控服務(wù)器與測(cè)試控制板相連接，所述老化柜上設(shè)有測(cè)試架，所述測(cè)試架上設(shè)有多個(gè)測(cè)試插口，待測(cè)試FLASH放置到測(cè)試板上后，將測(cè)試板插入測(cè)試插口，所述測(cè)試插口上設(shè)有與所述測(cè)試板相匹配的電連接觸點(diǎn)；測(cè)試系統(tǒng)可分時(shí)對(duì)待測(cè)試FLASH進(jìn)行功能測(cè)試、老化測(cè)試和篩選測(cè)試；所述的功能測(cè)試過(guò)程如下：所述主控服務(wù)器將預(yù)先設(shè)置好的測(cè)試指令下發(fā)到測(cè)試控制板，測(cè)試控制板根據(jù)接收到的測(cè)試指令再下發(fā)控制命令到各個(gè)測(cè)試板，控制測(cè)試板按照主控服務(wù)器的要求控制對(duì)待測(cè)試FLASH進(jìn)行功能測(cè)試；所述老化測(cè)試具體為：所述主控服務(wù)器根據(jù)測(cè)試要求，控制老化柜的溫控系統(tǒng)，控制老化柜按照要求的溫度曲線控制老化柜的溫度，對(duì)待測(cè)試FLASH進(jìn)行老化測(cè)試；所述篩選測(cè)試，在功能測(cè)試和老化測(cè)試過(guò)程中同時(shí)采集測(cè)試過(guò)程的測(cè)試數(shù)據(jù)，并將該數(shù)據(jù)反饋給到主控服務(wù)器，同時(shí)將待測(cè)試FLASH的各個(gè)電氣參數(shù)數(shù)據(jù)反饋給到主控服務(wù)器，主控服務(wù)器根據(jù)反饋的數(shù)據(jù)對(duì)待測(cè)試FLASH進(jìn)行自動(dòng)篩選和標(biāo)識(shí)。

所述的FLASH芯片的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的主控服務(wù)器上還設(shè)有圖形化狀態(tài)顯示模塊和操作模塊，所述圖形化狀態(tài)顯示模塊與老化柜的測(cè)試架相匹配，實(shí)時(shí)根據(jù)老化架中的待測(cè)試FLASH進(jìn)行更新，通過(guò)操作圖形化狀態(tài)顯示模塊中的圖像模塊可達(dá)到操作圖像模塊顯示的實(shí)際待測(cè)試FLASH所在的測(cè)試板。

所述的FLASH芯片的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于主控服務(wù)器通過(guò)有線或無(wú)線數(shù)據(jù)線與測(cè)試控制板相連；所述測(cè)試控制板通過(guò)I2C或串口協(xié)議與測(cè)試板相連。

根據(jù)權(quán)利要求3所述的FLASH芯片的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述測(cè)試板上設(shè)有多個(gè)待測(cè)試FLASH的放置座。

本發(fā)明通過(guò)對(duì)現(xiàn)有測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行優(yōu)化合并，提高了FLASH測(cè)試的效率，減少了測(cè)試過(guò)程中對(duì)FLASH測(cè)試的移動(dòng)，并提供了圖形化的操作界面和結(jié)果顯示界面。

附圖說(shuō)明

圖1是一種FLASH芯片的測(cè)試系統(tǒng)框圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

圖1是一種FLASH芯片的測(cè)試系統(tǒng)框圖，F(xiàn)LASH芯片的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于包括主控服務(wù)器、老化柜和測(cè)試控制板，主控服務(wù)器與測(cè)試控制板通過(guò)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)接器相連接，數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)接器可以是交換機(jī)、hub。老化柜上設(shè)有測(cè)試架，測(cè)試架上設(shè)有多個(gè)測(cè)試插口，待測(cè)試FLASH放置到測(cè)試板上后，將測(cè)試板插入測(cè)試插口，測(cè)試插口上設(shè)有與所述測(cè)試板相匹配的電連接觸點(diǎn)；測(cè)試系統(tǒng)可分時(shí)對(duì)待測(cè)試FLASH進(jìn)行功能測(cè)試、老化測(cè)試和篩選測(cè)試；功能測(cè)試過(guò)程如下：主控服務(wù)器將預(yù)先設(shè)置好的測(cè)試指令或測(cè)試用例集下發(fā)到測(cè)試控制板，測(cè)試用例集可以是單獨(dú)設(shè)置，也可以是直接設(shè)置在主控服務(wù)器中。測(cè)試人員可以通過(guò)PC終端通過(guò)網(wǎng)絡(luò)連接到主控服務(wù)器，操控主控服務(wù)器，配置測(cè)試指令或查看測(cè)試結(jié)果。測(cè)試控制板根據(jù)接收到的測(cè)試指令再下發(fā)控制命令到各個(gè)測(cè)試板，控制測(cè)試板按照主控服務(wù)器的要求控制對(duì)待測(cè)試FLASH進(jìn)行功能測(cè)試；老化測(cè)試具體為：主控服務(wù)器根據(jù)測(cè)試要求，控制老化柜的溫控系統(tǒng)，控制老化柜按照要求的溫度曲線控制老化柜的溫度，對(duì)待測(cè)試FLASH進(jìn)行老化測(cè)試，測(cè)試架上的測(cè)試插口由供電模塊進(jìn)行功能，供電模塊為各個(gè)測(cè)試插口單獨(dú)提供可單獨(dú)控制開(kāi)關(guān)的供電線路，主控服務(wù)器可實(shí)現(xiàn)分別控制各個(gè)測(cè)試板的通斷電；篩選測(cè)試，在功能測(cè)試和老化測(cè)試過(guò)程中同時(shí)采集測(cè)試過(guò)程的測(cè)試數(shù)據(jù)，并將該數(shù)據(jù)反饋給到主控服務(wù)器，同時(shí)將待測(cè)試FLASH的各個(gè)電氣參數(shù)數(shù)據(jù)反饋給到主控服務(wù)器，主控服務(wù)器根據(jù)反饋的數(shù)據(jù)對(duì)待測(cè)試FLASH進(jìn)行自動(dòng)篩選和標(biāo)識(shí)。

以上所揭露的僅為本發(fā)明一種實(shí)施例而已，當(dāng)然不能以此來(lái)限定本之權(quán)利范圍，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例的全部或部分流程，并依本發(fā)明權(quán)利要求所作的等同變化，仍屬于本發(fā)明所涵蓋的范圍。