[發明專利]一種FLASH芯片的測試系統

在審

• 申請號: 201611250995.2
• 申請日: 2016-12-29
• 公開（公告）號: CN106653097A
• 公開（公告）日: 2017-05-10
• 發明（設計）人: 趙軍委
• 申請（專利權）人: 記憶科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 廣東廣和律師事務所44298
• 代理人: 葉新民

1.一種FLASH芯片的測試系統，其特征在于包括主控服務器、老化柜和測試控制板，所述主控服務器與測試控制板相連接，所述老化柜上設有測試架，所述測試架上設有多個測試插口，待測試FLASH放置到測試板上后，將測試板插入測試插口，所述測試插口上設有與所述測試板相匹配的電連接觸點；測試系統可分時對待測試FLASH進行功能測試、老化測試和篩選測試；所述的功能測試過程如下：所述主控服務器將預先設置好的測試指令下發到測試控制板，測試控制板根據接收到的測試指令再下發控制命令到各個測試板，控制測試板按照主控服務器的要求控制對待測試FLASH進行功能測試；所述老化測試具體為：所述主控服務器根據測試要求，控制老化柜的溫控系統，控制老化柜按照要求的溫度曲線控制老化柜的溫度，對待測試FLASH進行老化測試；所述篩選測試，在功能測試和老化測試過程中同時采集測試過程的測試數據，并將該數據反饋給到主控服務器，同時將待測試FLASH的各個電氣參數數據反饋給到主控服務器，主控服務器根據反饋的數據對待測試FLASH進行自動篩選和標識。

2.根據權利要求1所述的FLASH芯片的測試系統，其特征在于所述的主控服務器上還設有圖形化狀態顯示模塊和操作模塊，所述圖形化狀態顯示模塊與老化柜的測試架相匹配，實時根據老化架中的待測試FLASH進行更新，通過操作圖形化狀態顯示模塊中的圖像模塊可達到操作圖像模塊顯示的實際待測試FLASH所在的測試板。

3.根據權利要求2所述的FLASH芯片的測試系統，其特征在于主控服務器通過有線或無線數據線與測試控制板相連；所述測試控制板通過I2C或串口協議與測試板相連。

4.根據權利要求3所述的FLASH芯片的測試系統，其特征在于所述測試板上設有多個待測試FLASH的放置座。