[發明專利]顯示模組點燈測試裝置及方法

有效

• 申請號: 201611245880.4
• 申請日: 2016-12-29
• 公開（公告）號: CN106771974B
• 公開（公告）日: 2019-07-12
• 發明（設計）人: 安泰生
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G05B19/042
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 李慶波

本發明公開了一種顯示模組點燈測試裝置及方法，該裝置用于對待測顯示模組進行點燈測試，包括：存儲器、外圍電路及現場可編程門陣列芯片，其中，現場可編程門陣列芯片內集成有微處理器和顯示界面控制器，微處理器用于輸出初始化信息，且微處理器連接顯示界面控制器，現場可編程門陣列芯片通過顯示界面控制器而連接待測顯示模組，以輸出初始化信息至待測顯示模組從而對待測顯示模組進行初始化操作，并輸出處理后的圖片數據至待測顯示模組，從而對待測顯示模組進行點燈測試。通過上述方式，本發明能夠簡化點燈測試裝置的硬件部分，減少外圍電路設計，降低電子元器件的使用數量，提升點燈裝置的穩定性，方便研發人員維護。

技術領域

本發明涉及顯示領域，特別是涉及一種顯示模組點燈測試裝置及方法。

背景技術

目前小尺寸面板廠商在手機面板組成模組后，會對手機模組進行相應的功能測試，例如模組光學的品味，模組整體的功耗，伽馬調試等測試。這些相關測試都需要模組點燈測試平臺來實現，大多數小尺寸面板廠商所采用的點燈測試裝置的中的元器件數量較多，成本比較高，且容易影響模組測試的進度。

發明內容

本發明主要解決的技術問題是提供一種顯示模組點燈測試裝置及方法，能夠簡化點燈測試裝置的硬件部分，減少外圍電路設計，降低電子元器件的使用數量，提升點燈裝置的穩定性，方便研發人員對點燈測試裝置的維護。

為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供一種顯示模組點燈測試裝置，用于對待測顯示模組進行點燈測試，包括：存儲器，用于存儲進行點燈測試所需的圖片數據；外圍電路，接收用戶指令并根據用戶指令而輸出對應的控制指令；現場可編程門陣列芯片(Field-Programmable Gate Array，FPGA)，與存儲器與外圍電路連接以接收圖片數據和控制指令，根據控制指令而產生對應的控制參數，并根據控制參數對圖片數據進行處理以輸出處理后的待測顯示模組進行點燈測試所需的圖片數據至待測顯示模組，從而對待測顯示模組進行點燈測試；其中，現場可編程門陣列芯片內集成有微處理器和顯示界面控制器，微處理器用于輸出初始化信息，且微處理器連接顯示界面控制器，現場可編程門陣列芯片通過顯示界面控制器而連接待測顯示模組，以輸出初始化信息至待測顯示模組從而對待測顯示模組進行初始化操作，并輸出處理后的待測顯示模組進行點燈測試所需的圖片數據至待測顯示模組，從而對待測顯示模組進行點燈測試。

其中，現場可編程門陣列芯片內集成的微處理器中配置有用戶指令，且微處理器通過總線接口而連接外圍電路，以將用戶指令輸出至外圍電路。

其中，外圍電路進一步連接至一個用于供用戶輸入用戶指令的控制裝置，以通過外圍裝置而接收用戶指令。

其中，現場可編程門陣列芯片內進一步包括：存儲控制器，與存儲器連接以讀取存儲器內存儲的圖片數據；I²C(Inter Integrated Circuit)從控制器，與外圍電路連接以接收外圍電路所輸出的控制指令；參數配置控制器，與I²C從控制器連接以根據控制指令而產生對應的控制參數；圖片產生器；PG產生器，其中，圖片產生器和PG產生器分別與存儲控制器連接以分別接收存儲器所輸出的圖片數據，且圖片產生器和PG產生器進一步分別與參數配置控制器，以分別根據控制參數而對圖片數據進行處理；模式選擇控制器，分別連接圖片產生器和PG產生器，以根據其選擇的工作模式而選擇圖片產生器和PG產生器之一所輸出的處理后圖片數據作為處理后的待測顯示模組進行點燈測試所需的圖片數據進行輸出，且模式選擇控制器進一步連接顯示界面控制器，以通過顯示界面控制器而輸出選擇的圖片產生器和PG產生器之一所輸出的處理后圖片數據至待測顯示模組。

其中，模式選擇控制器進一步連接微處理器以接收微處理器所輸出的模式選擇指令并根據模式選擇指令而工作在對應的工作模式下。