[發明專利]一種干涉儀裝配質量檢測系統

有效

• 申請號: 201611244555.6
• 申請日: 2016-12-29
• 公開（公告）號: CN106596075B
• 公開（公告）日: 2019-08-09
• 發明（設計）人: 楊建華;時東海;馬瑞;黃磊;任娟;黃鑫巖;龍婭;陳欣
• 申請（專利權）人: 北京航天時代光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 馬全亮

一種干涉儀裝配質量檢測系統，由測試系統與被測干涉儀光路組成完整保偏光纖陀螺最小互易性結構，本發明可以通過探測器輸出電壓判斷干涉儀光路裝配損耗，提前發現干涉儀光路損耗問題，提高裝配合格率，降低生產成本。

技術領域

本發明涉及一種干涉儀裝配質量檢測系統，屬于光纖產品檢測技術領域。

背景技術

干涉儀光路是一閉環光路，是由光纖環和Y波導組成，不具備在熔接點裝配中實時檢測的條件。判斷熔接點質量的好壞，完全依賴于光纖熔接機的估算結果。然而裝配光路所用的光纖熔接機損耗估算的準確性不足，損耗估算結果僅能作為參考，只有在光路裝配完畢后的光電聯調階段才能發現干涉儀光路損耗偏大的問題，一旦發生損耗大的問題，會在以下三個方面造成經濟損失：

1、由于光纖陀螺儀的光路為了避免振動超差已部分固化，修復故障陀螺會直接造成Y波導、或整個陀螺光路報廢；

2、光電聯調階段發現故障，可能的故障范圍廣，排查過程復雜費力，效率低；

3、光電聯調階段發現故障時再進行返修，需要將陀螺所有已裝配的部分拆除，恢復到初始狀態進行返工，返工工作量大，成本高。

發明內容

本發明的技術解決問題：克服現有技術的不足，提供一種干涉儀裝配質量檢測系統，可以判斷干涉儀光路裝配損耗，提前發現干涉儀光路損耗問題，提高裝配合格率，降低生產成本。

本發明的技術解決方案是：

一種干涉儀裝配質量檢測系統，包括：殼體、風扇、光路檢測系統、檢測電路、電信號探測器、FC/APC接頭；

風扇、光路檢測系統、檢測電路和電信號探測器安裝在殼體內部，風扇用于給殼體內部降溫，光路檢測系統通過安裝在殼體上的FC/APC接頭連接外部待檢測的干涉儀，同時，光路檢測系統通過電信號探測器與檢測電路連接成回路，用于檢測外部干涉儀的光功率。

所述光路檢測系統包括光源、3×3耦合器、2×2耦合器、光路支撐殼體和裸管探測器；

光路支撐殼體固定在殼體的內部底板上，光路檢測系統包括光源、3×3耦合器、2×2耦合器和裸管探測器均安裝在光路支撐殼體上；光源提供光信號，與3×3耦合器的輸入端熔接在一起，通過3×3耦合器分光為三路，一路與裸管探測器連接，用于檢測光功率并輸出；另外兩路均與2×2耦合器的一個輸入端連接，經過2×2耦合器分光之后，其中一路連接到FC/APC接頭；2×2耦合器的另外一路輸入端還連接到電信號探測器。

光源產生的光信號的波長與待測干涉儀的工作波長相同。

所述光纖熔接的位置處設置有光纖熔接管。

所述檢測電路包括光源驅動電路、溫控電路、電壓測量電路、光功率測量電路和電源；

電源給光源驅動電路、溫控電路、電壓測量電路和光功率測量電路供電，光源驅動電路用于給光路檢測系統中的光源提供驅動信號，控制光源產生的光信號功率；溫控電路用于給光路檢測系統中的光源控制溫度；電壓測量電路用于測量電信號探測器的輸出電壓，光功率測量電路用于測量裸管探測器的輸出光功率。

本發明與現有技術相比的有益效果為：

(1)本發明的測試系統與被測干涉儀光路組成完整保偏光纖陀螺最小互易性結構，通過探測器輸出電壓判斷干涉儀光路裝配損耗，發現干涉儀光路損耗問題。

(2)本發明可以提前精確判定干涉儀光路裝配質量，解決了原有技術依靠光纖熔接機的估算結果判定判斷熔接點質量準確性不足的問題，且本系統可在干涉儀裝配完成后即可實時進行裝配質量檢測，無需按照原有技術，等到光電聯調時才可知道干涉儀光路的裝配質量，克服了原有技術的不足，提高生產合格率，并有效降低了生產成本。

附圖說明