[發明專利]一種干涉儀裝配質量檢測系統

有效

• 申請號: 201611244555.6
• 申請日: 2016-12-29
• 公開（公告）號: CN106596075B
• 公開（公告）日: 2019-08-09
• 發明（設計）人: 楊建華;時東海;馬瑞;黃磊;任娟;黃鑫巖;龍婭;陳欣
• 申請（專利權）人: 北京航天時代光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 馬全亮

1.一種干涉儀裝配質量檢測系統，其特征在于包括：殼體(1)、風扇(2)、光路檢測系統(3)、檢測電路(4)、電信號探測器(5)、FC/APC接頭(6)；

風扇(2)、光路檢測系統(3)、檢測電路(4)和電信號探測器(5)安裝在殼體(1)內部，風扇(2)用于給殼體(1)內部降溫，光路檢測系統(3)通過安裝在殼體(1)上的FC/APC接頭(6)連接外部待檢測的干涉儀，同時，光路檢測系統(3)通過電信號探測器(5)與檢測電路(4)連接成回路，用于檢測外部待檢測的干涉儀的光功率；

所述光路檢測系統(3)包括光源(7)、3×3耦合器(8)、2×2耦合器(9)、光路支撐殼體(10)和裸管探測器(11)；

光路支撐殼體(10)固定在殼體(1)的內部底板上，光源(7)、3×3耦合器(8)、2×2耦合器(9)和裸管探測器(11)均安裝在光路支撐殼體(10)上；光源(7)提供光信號，與3×3耦合器(8)的輸入端熔接在一起，通過3×3耦合器(8)分光為三路，一路與裸管探測器(11)連接，用于檢測光功率并輸出；另外兩路均與2×2耦合器(9)的一個輸入端連接，經過2×2耦合器(9)分光之后，其中一路連接到FC/APC接頭(6)；2×2耦合器(9)的另外一路輸入端還連接到電信號探測器(5)。

2.根據權利要求1所述的一種干涉儀裝配質量檢測系統，其特征在于：光源(7)產生的光信號的波長與待測干涉儀的工作波長相同。

3.根據權利要求1所述的一種干涉儀裝配質量檢測系統，其特征在于：光纖熔接的位置處設置有光纖熔接管。

4.根據權利要求1所述的一種干涉儀裝配質量檢測系統，其特征在于：所述檢測電路(4)包括光源驅動電路、溫控電路、電壓測量電路、光功率測量電路和電源；

電源給光源驅動電路、溫控電路、電壓測量電路和光功率測量電路供電，光源驅動電路用于給光路檢測系統(3)中的光源提供驅動信號，控制光源產生的光信號功率；溫控電路用于給光路檢測系統(3)中的光源控制溫度；電壓測量電路用于測量電信號探測器(5)的輸出電壓，光功率測量電路用于測量裸管探測器(11)的輸出光功率。