[發明專利]一種計算化學藥物中有關物質含量的HPLC-ELSD雙校正因子法

有效

• 申請號: 201611241484.4
• 申請日: 2016-12-29
• 公開（公告）號: CN106706792B
• 公開（公告）日: 2019-05-17
• 發明（設計）人: 張慧;李于采薇;周潔;周靜;趙卿;霍立茹;李戰
• 申請（專利權）人: 南京濟群醫藥科技股份有限公司
• 主分類號: G01N30/02
• 分類號: G01N30/02;G01N30/74
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種HPLC-ELSD雙校正因子計算方法：

a)通過標準曲線方程LgA＝kLgC+b，得到k_{供試品對照}、k_雜質對照、b_{供試品對照}、b_雜質對照

斜率k＝SLOPE(LgA,LgC)

截距b＝INTERCEPT(LgA,LgC)

b)計算雙校正因子F_k＝k_{供試品對照}/k_雜質對照，

F_b＝b_{供試品對照}/b_雜質對照；

所述步驟a)具體操作方法：配制n組不同濃度的化學藥物及其有關物質混合對照溶液，注入高效液相色譜儀，測定色譜峰峰面積，得到標準曲線方程LgA＝k_{供試品對照}LgC+b_{供試品對照}、LgA＝k_雜質對照LgC+b_雜質對照，分別于不同時間或不同品牌相同填料色譜柱獲得m條化學藥物及其各有關物質的標準曲線方程，得到m組k_{供試品對照j}和b_{供試品對照j}、k_{雜質對照j}和b_{雜質對照j}數據，n為大于等于2的整數，j為大于0且小于等于m的整數，m為大于等于1的整數；

所述步驟b)具體計算方法：F_kj＝k_{供試品對照j}/k_{雜質對照j}和F_bj＝b_{供試品對照j}/b_{雜質對照j}，將F_k1～F_km、F_b1～F_bm值取平均，得到各個雜質相對于化學藥物的雙校正因子F_k、F_b或者F_k’、F_b’。

2.如權利要求1所述的HPLC-ELSD雙校正因子計算方法，其特征在于，所述計算公式b)雙校正因子亦可表述為F_k’＝k_雜質對照/k_{供試品對照}，F_b’＝b_雜質對照/b_{供試品對照}。

3.如權利要求2所述的HPLC-ELSD雙校正因子計算方法，其特征在于，所述n取值為3，配制的濃度為限度濃度的50％～80％、90％～110％、120％～150％。

4.如權利要求2所述的HPLC-ELSD雙校正因子計算方法，其特征在于，各雜質相對于化學物質的雙校正因子F_k、F_b或者F_k’、F_b’，為保留3～4位有效數字的固定常數。

5.一種計算化學藥物中有關物質雜質濃度的HPLC-ELSD雙校正因子法，其特征在于：包括如下步驟：

1)通過權利要求1-4任一項方法計算得到F_b、F_k或F_b’、F_k’；

2)繪制樣品對照品標準曲線方程，計算b_對、k_對；

3)測定待測化學藥物的雜質峰面積A_雜；

4)雜質濃度由以下公式計算得到：C_雜＝10^{[LgA_雜-(b_對/F_b)]/(k_對/F_k)}，或C_雜＝10^{[LgA _雜-(b_對*F_b’)]/(k_對*F_k’)}，雜質濃度C_雜的單位為mg/ml。