[發明專利]巖層電阻率校正方法及裝置

有效

• 申請號: 201611236577.8
• 申請日: 2016-12-28
• 公開（公告）號: CN106802433B
• 公開（公告）日: 2019-03-12
• 發明（設計）人: 肖承文;章成廣;信毅;唐軍;陳偉中;鄭恭明;周磊;韓闖;趙新建;曹軍濤
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01V3/38
• 分類號: G01V3/38;G01V3/20;E21B49/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 張洋;黃健

本發明實施例提供一種巖層電阻率校正方法及裝置，該方法包括：測量模擬應力在不同壓力差下巖心的電阻；其中，模擬應力包括：模擬張性應力或模擬壓性應力；進一步地，分別根據不同壓力差下巖心的電阻，確定不同壓力差下巖心的電阻率，并根據不同壓力差下巖心的電阻率，確定模擬應力下的電阻率校正系數；進一步地，根據模擬應力下的電阻率校正系數，對測量得到的對應應力類型下的巖層電阻率進行校正?？梢姡ㄟ^根據模擬應力下的電阻率校正系數對測量得到的對應應力類型下的巖層電阻率進行校正，使得校正后的巖層電阻率更加準確，以便于能夠根據校正后的巖層電阻率來準確地測定實際的致密砂巖儲層的物理特性。

技術領域

本發明實施例涉及石油天然氣勘探技術領域，尤其涉及一種巖層電阻率校正方法及裝置。

背景技術

近年來，致密砂巖儲層的勘探越來越受到重視。其中，致密砂巖儲層中的致密砂巖氣屬于非常規油氣藏，對非常規油氣藏的勘探開發是當前解決我國能源問題很重要的環節。通常情況下，通過對致密砂巖儲層的電特性(例如電阻率)的測量來測定致密砂巖儲層的物理特性。

但現有技術中，由于不同應力作用下巖石孔隙結構的差別會導致復雜油氣儲集層(例如致密砂巖儲層)電阻率的測井響應復雜多變，從而無法根據測量得到電阻率來準確地測定實際的致密砂巖儲層的物理特性。

發明內容

本申請實施例提供一種巖層電阻率校正方法及裝置，通過根據模擬應力下的電阻率校正系數對測量得到的對應應力類型下的巖層電阻率進行校正，使得校正后的巖層電阻率更加準確，以便于能夠根據校正后的巖層電阻率來準確地測定實際的致密砂巖儲層的物理特性。

第一方面，本申請實施例提供一種巖層電阻率校正方法，包括：

測量模擬應力在不同壓力差下巖心的電阻；其中，所述模擬應力包括：模擬張性應力或模擬壓性應力；

分別根據所述不同壓力差下巖心的電阻，確定所述不同壓力差下巖心的電阻率；

根據所述不同壓力差下巖心的電阻率，確定所述模擬應力下的電阻率校正系數；

根據所述模擬應力下的電阻率校正系數，對測量得到的對應應力類型下的巖層電阻率進行校正，其中，所述應力類型包括：張性應力或壓性應力。

可選地，所述根據所述不同壓力差下巖心的電阻率，確定所述模擬應力下的電阻率校正系數，包括：

根據所述不同壓力差下巖心的電阻率，采用數學擬合方式確定所述模擬應力下的電阻率校正系數。

可選地，若所述模擬應力包括：模擬張性應力，所述根據所述模擬應力下的電阻率校正系數，對測量得到的對應應力類型下的巖層電阻率進行校正，包括：

根據所述模擬張性應力下的電阻率校正系數，對測量得到的張性應力下的巖層電阻率進行校正。

可選地，所述根據所述模擬張性應力下的電阻率校正系數，對測量得到的張性應力下的巖層電阻率進行校正，包括：

根據公式r_t1＝r_c1×A₁×P₁+B₁×P₁+C₁，得到對所述張性應力下的巖層電阻率校正后的電阻率；

其中，r_t1為所述校正后的電阻率，r_c1為所述測量得到的張性應力下的巖層電阻率，P₁為測量所述巖層電阻率時的壓力差，A₁、B₁以及C₁屬于所述模擬張性應力下的電阻率校正系數。

可選地，若所述模擬應力包括：模擬壓性應力，所述根據所述模擬應力下的電阻率校正系數，對測量得到的對應應力類型下的巖層電阻率進行校正，包括：