[發(fā)明專利]一種低介電常數(shù)有序多孔聚酰亞胺薄膜的制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611234594.8 | 申請日: | 2016-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN106750435B | 公開(公告)日: | 2019-08-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周慧;曹肖;李奇琳;童榮柏;周光大;林建華 | 申請(專利權(quán))人: | 杭州福斯特應(yīng)用材料股份有限公司 |
| 主分類號: | C08J5/18 | 分類號: | C08J5/18;C08J9/26;C08G73/10;C01B33/18;C08L79/08 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 33200 | 代理人: | 邱啟旺 |
| 地址: | 311300 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜 低介電常數(shù) 制備 多孔聚酰亞胺 聚酰亞胺薄膜 力學性能 高密度集成電路 聚酰亞胺復(fù)合物 二氧化硅微球 氫氟酸刻蝕液 高擊穿電壓 熱膨脹系數(shù) 化學鍵 氨基修飾 尺寸分布 二氧化硅 高頻高速 擊穿電壓 介電常數(shù) 聚酰亞胺 空氣孔洞 潛在的 接枝 均一 刻蝕 洗滌 應(yīng)用 引入 | ||
本發(fā)明公開了一種低介電常數(shù)有序多孔聚酰亞胺薄膜的制備方法:該方法首先制備了氨基修飾的二氧化硅微球,然后將聚酰亞胺以化學鍵形式接枝在其表面上,制備成聚酰亞胺復(fù)合物薄膜,在氫氟酸刻蝕液中將二氧化硅刻蝕掉,經(jīng)洗滌、干燥后制得低介電常數(shù)有序多孔聚酰亞胺薄膜。本發(fā)明在聚酰亞胺薄膜中引入孔徑在30?200nm、尺寸分布均一、在薄膜內(nèi)分布均勻的空氣孔洞,降低了聚酰亞胺薄膜的介電常數(shù),同時由于其孔徑較小且在薄膜內(nèi)分布均勻,聚酰亞胺薄膜保持了較高的力學性能與擊穿電壓。本發(fā)明具有低介電常數(shù)、高擊穿電壓、力學性能好、熱膨脹系數(shù)降低的優(yōu)點,在高頻高速、高密度集成電路中具有潛在的應(yīng)用價值與良好的應(yīng)用前景。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于高分子材料領(lǐng)域,涉及一種應(yīng)用在高頻高速、高密度集成電路中的低介電常數(shù)有序多孔聚酰亞胺薄膜的制備方法。
背景技術(shù)
高速高頻化、高密度化,已經(jīng)成為印制線路板PCB,撓性印制線路板FPC和大規(guī)模集成線路發(fā)展的主要方向。在此背景下,以聚酰亞胺薄膜為絕緣基層的集成電路中,由于常規(guī)聚酰亞胺(PI)薄膜的介電常數(shù)維持在3.4以上居高不下,信號容阻延遲、信號傳輸延時、干擾增強、功率損耗增大等問題日益凸顯,限制了電子元器件中信號的高速高頻傳輸性能。為滿足信號傳遞的高速化,進一步提高電子線路的功能,亟需開發(fā)新型低介電常數(shù)的聚酰亞胺薄膜,降低絕緣基層的寄生電容,降低阻容延時所引起的信號延遲、串擾等,提高信號的傳輸速度與傳輸質(zhì)量。
根據(jù)文獻中報道,降低PI薄膜的介電常數(shù)主要有以下幾種方法:
1、主鏈上引入脂肪鏈。這一方法,對介電常數(shù)的降低十分有限。而且,脂肪鏈等非剛性鏈段的引入,會引起PI薄膜的力學性能、熱性能下降與線性熱膨脹系數(shù)提高,降低FPC的加工良率與產(chǎn)品性能。
2、在主鏈或是支鏈上引入氟代基團。這是一種降低介電常數(shù)的有效方法,隨著氟含量增加,介電常數(shù)降低明顯。但是當氟取代量較低,介電常數(shù)降低有限;氟含量增大,導(dǎo)致PI薄膜的原料成本大大升高,難以實現(xiàn)工業(yè)化應(yīng)用。而且,介電常數(shù)也難以降低至2.5以下。
3、在側(cè)鏈上連接大分子基團,增大分子鏈自由體積。在PI側(cè)鏈引入芴基團、三苯基胺等大體積基團,可以在分子鏈之間形成空隙,造成PI分子鏈的自由體積增加。調(diào)節(jié)基團種類與數(shù)量,介電常數(shù)可以達到2.5以下,特殊情況甚至可以降低至1.5。但是,這類原料種類稀少,單價很高,大部分都未工業(yè)化生產(chǎn),只能在實驗室少量合成,工業(yè)化應(yīng)用困難。
4、采用無機氧化物或是氟樹脂顆粒摻雜。在PI薄膜中摻雜低介電常數(shù)的無機氧化物、氟樹脂等,的確可以降低介電常數(shù),但是摻雜物與PI樹脂的相容性是一個很大的問題。而且,摻雜之后的PI薄膜,介電常數(shù)降低并不明顯,如專利CN 100494280C和專利CN104530703 A中報道,PI薄膜介電常數(shù)還是在2.6以上。另一方面,介電常數(shù)明顯降低要求較高的摻雜量,這會造成PI薄膜拉伸強度、模量等機械性能的迅速下降。
5、引入微米或納米級孔洞。這是降低PI薄膜介電常數(shù)最為行之有效的方法。通過物理或化學發(fā)泡、空心微球摻雜、低聚物的摻雜與抽提等方法,都能在PI薄膜中引入孔洞;但是PI薄膜中孔徑多在微米級,甚至有10微米,這對于線路板中PI薄膜只有10-30微米厚度的要求來說,難以滿足。通過PI薄膜中摻雜熱不穩(wěn)定的高分子樹脂,再加熱除去以形成納米尺寸孔洞,但會引起薄膜顏色加深甚至變黑。
PI薄膜中引入空氣孔洞,一方面需要控制孔徑,孔徑過大,無法制備出微米級厚度的PI薄膜,同時也嚴重影響PI薄膜的拉伸強度、模量;另一方面需要控制孔徑的大小均一性,及在PI薄膜中分布的均一性。專利CN 1293129C中,在PAA溶液中直接加入硅氧烷,制備PI/SiO2復(fù)合薄膜,并隨后除去SiO2;依此方法,制備的PI薄膜,介電常數(shù)降低至2以下。不過,這一方法并未對SiO2的尺寸大小、均勻性、分散性進行控制,PI薄膜中空氣孔洞孔徑分布不均勻,影響PI薄膜的機械性能。
發(fā)明內(nèi)容
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