[發明專利]磁瓦檢測機構

在審

• 申請號: 201611228948.8
• 申請日: 2016-12-27
• 公開（公告）號: CN108240992A
• 公開（公告）日: 2018-07-03
• 發明（設計）人: 薛春花;張春平;趙曉曦;陳志列
• 申請（專利權）人: 研祥智能科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/892
• 分類號: G01N21/892
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 余哲瑋

一種磁瓦檢測機構包括第一檢測組件、第二檢測組件以及控制器，第一檢測組件包括第一檢測支架、第一檢測相機以及第一檢測光源，第一檢測支架支撐于機架上，第一檢測相機設置于第一檢測支架上并與第一檢測光源配合；第二檢測組件包括第二檢測支架、第二檢測相機、第二檢測光源以及轉向組件，第二檢測支架支撐于機架上，轉向組件設置于第二檢測支架上，第二檢測相機與第二檢測光源配合，控制器用于根據第一檢測組件和第二檢測組件的檢測結果對當前磁瓦進行缺陷分析。本發明磁瓦檢測機構對磁瓦的外弧面、內弧面、邊面以及端面進行拍照取像，并分析判斷磁瓦是否存在缺陷，提高磁瓦檢測準確率和檢測效率，提高自動化程度以利于生產效率的提高。

技術領域

本發明涉及磁瓦檢測技術領域，特別涉及一種磁瓦檢測機構。

背景技術

磁瓦是永磁體中的一種用在永磁電機上的瓦狀磁體，目前國內磁瓦生產量巨大，而磁瓦檢測則依靠人工檢測的方式，傳統的人工檢測主要是基于人的眼睛，由于一些生理上的限制在一些細微的裂紋上很難檢測出來，同時這種方法極易受到外部環境和身體狀況的影響，通常會出現漏檢和誤檢，很難保證磁瓦的品質；這種方法工作量大、重復性高，檢測的效率低下，已不適應磁瓦自動化生產的需要，影響磁瓦生產效率。

發明內容

基于此，有必要提供一種結構簡單且可實現自動檢測的磁瓦檢測機構。

一種磁瓦檢測機構，設置于機架上用于對傳輸組件傳送的磁瓦進行缺陷檢測，所述磁瓦檢測機構包括第一檢測組件、第二檢測組件以及控制器，所述第一檢測組件包括第一檢測支架、第一檢測相機以及第一檢測光源，所述第一檢測支架支撐于所述機架上，且設置于所述傳輸組件的上方；所述第一檢測相機活動設置于所述第一檢測支架上并與所述第一檢測光源配合，用于對所述磁瓦的外弧面、內弧面或邊面中至少一者進行拍照取像；所述第二檢測組件包括第二檢測支架、第二檢測相機、第二檢測光源以及轉向組件，所述第二檢測支架支撐于所述機架上，且設置于所述傳輸組件的上方；所述轉向組件設置于所述第二檢測支架上，用于抓取所述傳輸組件上待檢測所述磁瓦并進行轉向操作，所述第二檢測相機活動設置于所述第二檢測支架上并與所述第二檢測光源配合，用于對轉向后的所述磁瓦的端面進行拍照取像；所述控制器用于根據所述第一檢測組件和所述第二檢測組件的檢測結果對當前所述磁瓦進行缺陷分析。

在其中一個實施例中，所述第一檢測支架包括第一橫梁、第二橫梁、兩根第一立梁、第一相機支架以及第一光源支架，兩根所述第一立梁垂直支撐固定于所述機架上，所述第一橫梁和所述第二橫梁向靠近所述機架的方向間隔連接于兩根所述第一立梁之間，且橫跨于所述傳輸組件上方；所述第一相機支架活動設置于所述第一橫梁上，且包括第一架板、第二架板以及相機固定板，所述第一架板沿垂直所述機架的方向連接于所述第一橫梁，并可在外力作用下沿所述第一橫梁的延長方向橫向移動，所述第二架板連接于所述第一架板遠離所述第一橫梁的一端，并向靠近所述機架的方向延伸。

在其中一個實施例中，所述第二架板的延長方向設置有相機滑槽，所述第一檢測相機通過所述相機固定板沿所述相機滑槽向靠近或遠離所述傳輸組件的方向可滑動地連接于所述第二架板上，并還可通過所述第一架板橫向可滑動地連接于所述第一橫梁上。

在其中一個實施例中，所述第一光源支架活動設置于所述第二橫梁上，且包括光源固定板及間隔設置于所述光源固定板上的兩根支桿；所述光源固定板連接于所述第二橫梁，并可在外力作用下沿所述第二橫梁的延長方向橫向移動，所述光源固定板沿平行所述第二橫梁方向設置有光源滑槽，兩根所述支桿垂直連接于所述光源固定板的相同一側，且橫向可滑動地連接于所述光源滑槽內。

在其中一個實施例中，兩根所述支桿的延長方向均開設長孔。

在其中一個實施例中，所述第一檢測組件還包括第一感應開關，所述第一感應開關設置于兩根所述支桿之間，用于感應所述磁瓦到位后，觸發所述第一檢測相機。