[發明專利]磁瓦檢測機構

在審

• 申請號: 201611228948.8
• 申請日: 2016-12-27
• 公開（公告）號: CN108240992A
• 公開（公告）日: 2018-07-03
• 發明（設計）人: 薛春花;張春平;趙曉曦;陳志列
• 申請（專利權）人: 研祥智能科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/892
• 分類號: G01N21/892
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 余哲瑋

1.一種磁瓦檢測機構，設置于機架上用于對傳輸組件傳送的磁瓦進行缺陷檢測，其特征在于：所述磁瓦檢測機構包括第一檢測組件、第二檢測組件以及控制器，所述第一檢測組件包括第一檢測支架、第一檢測相機以及第一檢測光源，所述第一檢測支架支撐于所述機架上，且設置于所述傳輸組件的上方；所述第一檢測相機活動設置于所述第一檢測支架上并與所述第一檢測光源配合，用于對所述磁瓦的外弧面、內弧面或邊面中至少一者進行拍照取像；所述第二檢測組件包括第二檢測支架、第二檢測相機、第二檢測光源以及轉向組件，所述第二檢測支架支撐于所述機架上，且設置于所述傳輸組件的上方；所述轉向組件設置于所述第二檢測支架上，用于抓取所述傳輸組件上待檢測所述磁瓦并進行轉向操作，所述第二檢測相機活動設置于所述第二檢測支架上并與所述第二檢測光源配合，用于對轉向后的所述磁瓦的端面進行拍照取像；所述控制器用于根據所述第一檢測組件和所述第二檢測組件的檢測結果對當前所述磁瓦進行缺陷分析。

2.如權利要求1所述的磁瓦檢測機構，其特征在于：所述第一檢測支架包括第一橫梁、第二橫梁、兩根第一立梁、第一相機支架以及第一光源支架，兩根所述第一立梁垂直支撐固定于所述機架上，所述第一橫梁和所述第二橫梁向靠近所述機架的方向間隔連接于兩根所述第一立梁之間，且橫跨于所述傳輸組件上方；所述第一相機支架活動設置于所述第一橫梁上，且包括第一架板、第二架板以及相機固定板，所述第一架板沿垂直所述機架的方向連接于所述第一橫梁，并可在外力作用下沿所述第一橫梁的延長方向橫向移動，所述第二架板連接于所述第一架板遠離所述第一橫梁的一端，并向靠近所述機架的方向延伸。

3.如權利要求2所述的磁瓦檢測機構，其特征在于：所述第二架板的延長方向設置有相機滑槽，所述第一檢測相機通過所述相機固定板沿所述相機滑槽向靠近或遠離所述傳輸組件的方向可滑動地連接于所述第二架板上，并還可通過所述第一架板橫向可滑動地連接于所述第一橫梁上。

4.如權利要求2所述的磁瓦檢測機構，其特征在于：所述第一光源支架活動設置于所述第二橫梁上，且包括光源固定板及間隔設置于所述光源固定板上的兩根支桿；所述光源固定板連接于所述第二橫梁，并可在外力作用下沿所述第二橫梁的延長方向橫向移動，所述光源固定板沿平行所述第二橫梁方向設置有光源滑槽，兩根所述支桿垂直連接于所述光源固定板的相同一側，且橫向可滑動地連接于所述光源滑槽內。

5.如權利要求4所述的磁瓦檢測機構，其特征在于：兩根所述支桿的延長方向均開設長孔。

6.如權利要求4所述的磁瓦檢測機構，其特征在于：所述第一檢測組件還包括第一感應開關，所述第一感應開關設置于兩根所述支桿之間，用于感應所述磁瓦到位后，觸發所述第一檢測相機。

7.如權利要求1所述的磁瓦檢測機構，其特征在于：所述第二檢測支架包括第三橫梁、兩根第二立梁以及兩個相機光源固定板，兩根所述第二立梁垂直支撐固定于所述機架上，所述第三橫梁連接于兩根所述第二立梁之間，且橫跨于所述傳輸組件上方；兩個所述相機光源固定板分別活動設置于兩根所述第二立梁上，并可在外力作用下沿兩根所述第二立梁的延長方向縱向移動。

8.如權利要求7所述的磁瓦檢測機構，其特征在于：所述第二檢測相機為分別對所述磁瓦兩個端面進行拍照取像的兩個，所述第二檢測光源為與兩個所述第二檢測相機相互配合的兩個；兩個所述第二檢測相機和兩個所述第二檢測光源成對配合的設置于兩個所述相機光源固定板上，并可在外力作用下隨對應的所述相機光源固定板沿所述第二立梁上下移動。

9.如權利要求7所述的磁瓦檢測機構，其特征在于：所述轉向組件包括吸附件、升降驅動件以及旋轉驅動件，所述旋轉驅動件安裝于所述第三橫梁上，所述升降驅動件與所述旋轉驅動件連接，所述吸附件設置于所述升降驅動件上，并可在所述升降驅動件的驅動下向靠近或遠離所述傳輸組件的方向移動，并在所述旋轉驅動件的驅動下相對所述第三橫梁旋轉。

10.如權利要求7所述的磁瓦檢測機構，其特征在于：所述第二檢測組件包括第二感應開關，所述第二感應開關設置于所述傳輸組件上且位于兩個所述相機光源固定板之間，用于當感應所述磁瓦進入所述傳輸組件時觸發所述轉向組件進行轉向并觸發所述第二檢測相機進行拍照取像。