[發(fā)明專利]一種解決通道間亮度不一致的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611224484.3 | 申請日: | 2016-12-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106780339A | 公開(公告)日: | 2017-05-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李赟晟;王勇;王凱;葉紅磊 | 申請(專利權(quán))人: | 上海集成電路研發(fā)中心有限公司;成都微光集電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T3/40 | 分類號(hào): | G06T3/40;G06T7/00 |
| 代理公司: | 上海天辰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙)31275 | 代理人: | 吳世華,陳慧弘 |
| 地址: | 201210 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 解決 通道 亮度 不一致 方法 | ||
1.一種解決通道間亮度不一致的方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟01:提供兩個(gè)圖像,在兩個(gè)圖像的拼縫處,設(shè)定一寬度范圍;拼縫被所設(shè)定的寬度包圍;
步驟02:計(jì)算出所設(shè)定的寬度范圍內(nèi)每行像素的亮度;
步驟03:以所設(shè)定的寬度范圍內(nèi)的每行像素值的坐標(biāo)作為橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo),從而得到點(diǎn)集合;
步驟04:根據(jù)Ransac算法中求取最優(yōu)解的方法,將點(diǎn)集合擬合出一條直線,得到點(diǎn)集合的最優(yōu)解模型;具體包括:
步驟041:設(shè)定最小抽樣集為n的模型和一個(gè)樣本集(P),樣本集(P)為以每行中的像素值作為橫縱坐標(biāo)的點(diǎn)集合,樣本集(P)中樣本個(gè)數(shù)大于n;
步驟042:從樣品集(P)中隨機(jī)抽取包含n個(gè)樣本的樣本集P的子集(S),模擬得到初始化模型(M);
步驟043:將樣品集(P)的余集中與初始化模型(M)的誤差小于設(shè)定閾值t的樣本集,和子集(S)構(gòu)成新的集合(S*),集合(S*)中是內(nèi)點(diǎn)集;
步驟044:若集合(S*)的個(gè)數(shù)≥N,則認(rèn)為初始化模型(M)正確;若集合(S*)的個(gè)數(shù)=N,重新抽取新的子集(S),重復(fù)上述步驟,得到最大個(gè)數(shù)的內(nèi)點(diǎn)集,對應(yīng)的模型就是最優(yōu)解模型;所述最優(yōu)解模型中,拼縫左邊的每行像素的亮度等于拼縫右邊的相應(yīng)行的像素的亮度;
步驟05:在最優(yōu)解模型中找出拼縫一側(cè)中每個(gè)像素的擬合值,按照該擬合值來調(diào)整拼縫一側(cè)相應(yīng)位置的像素的亮度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟02中,每行像素的亮度為相應(yīng)行中每個(gè)像素值的總和除以所設(shè)定的寬度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟042中,采用最小二乘法得到初始化模型(M)。
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