[發明專利]用于測試二維碼解碼算法的測試裝置及測試方法

有效

• 申請號: 201611223289.9
• 申請日: 2016-12-27
• 公開（公告）號: CN106776332B
• 公開（公告）日: 2020-02-14
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 華東江蘇大數據交易中心股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 33313 浙江專橙律師事務所
• 代理人: 邢萬里

本發明公開了一種用于測試二維碼解碼算法的測試方法。采用一種用于測試二維碼解碼算法的測試裝置，包括：PC機，硬件電路、光源及機械平臺，PC機連接硬件電路，光源倒掛在機械平臺，PC機用于保存結果及二維碼算法解碼，光源為圖像采集提供光照強度，硬件電路用于控制調整機械平臺中水平平臺的位置、圖像采集、二維碼算法解碼運算及測試結果數據傳輸與顯示；測試方法包括(1)選擇測試模式，(2)調整水平平臺位置，(3)圖像采集，(4)解碼運算。本發明較好的解決了現有技術中的問題，可用于測試驗證二維碼算法能力的生成活動中。

技術領域

本發明涉及一種用于測試二維碼解碼算法的測試裝置及測試方法。

背景技術

開發二維碼模擬算法，需要模擬現實中的手機掃描二維碼時的各種情況，由于手機與待掃描二維碼之間會存在一定的高度與偏轉角度，必須檢驗二維碼解碼算法是否符合設計初衷及現實當中的要求。因此，新開發的一套二維碼解碼算法，必須要在多種復雜情況下進行測試，來驗證算法解碼能力。例如不同的二維碼離攝像頭垂直距離，不同的偏轉角度，不同的光照強度進行測試驗證，并對測試數據結果進行保存或顯示。最終檢驗測試結果能否達到設計標準。

現有的測試技術是通過手動控制伺服機構進行轉動，模擬垂直距離變化與偏轉角度變化，來進行二維碼解碼算法的測試。現有技術中存在缺乏在Z軸上任意升降，X軸和Y軸旋轉二維碼角度的能力；不能實時監控和校準二維碼角度；不能滿足實際多種二維碼圖片的測試需要；傳輸數據速度慢，存儲數據容量小；缺乏自動測試模式和手動測試模式的切換；不能在黑夜中自動測試以及測試效率低下的技術問題。因此急需要一個較為完善的自動測試系統，提高測試效率，加快算法測試驗證進度。

發明內容

本發明要解決的技術問題是現有技術中測試系統不能較為完善、自動方便的對二維碼算法解碼能力進行測試的技術問題，提供一種用于測試二維碼解碼算法的測試裝置及測試方法，該技術方案具有能夠在Z軸上任意升降，X軸和Y軸旋轉二維碼角度的能力；能夠實時監控和校準二維碼角度；能夠存儲多種電子圖片，滿足實際多種二維碼圖片的測試需要；傳輸數據速度快，存儲容量大；具備自動測試模式且能夠切換手動測試模式；能夠在黑夜中自動測試以及提高測試效率的特點。

為解決上述技術問題，本發明采用的技術方案如下：

一種用于測試二維碼解碼算法的測試裝置，所述測試裝置包括PC機，硬件電路模塊、光源及機械平臺；

所述機械平臺包括一個用于懸掛光源的金屬架子及一個z軸方位、x軸及y軸偏轉角度可變的水平平臺；

所述光源倒掛在所述金屬架子頂端，用于提供所需的光照強度；

所述硬件電路包括圖像采集模塊，機械控制模塊以及系統供電模塊；

所述機械控制模塊連接所述機械平臺，用于控制水平平臺的z軸方位的調整，x軸及y軸偏轉角度的調整；

所述圖像采集模塊用于采集圖像，與所述機械控制模塊連接，

所述供電模塊用于給所述硬件電路供電；

所述PC機作為上位機，與圖形采集模塊連接。

上述技術方案中，進一步地，所述機械控制模塊包括MUC2處理器、與MUC2處理器連接的沿Z軸馬達升降機、沿X軸轉馬達、沿Y軸轉馬達、重力加速度器、NANDFLASH、LCD液晶顯示屏1以及按鍵2；

所述MUC2處理器用于控制沿Z軸馬達升降機、沿X軸轉馬達、沿Y軸轉馬達；

所述NANDFLASH用于存放收集到的電子圖片；

所述按鍵2用于選擇測試模式；

所述LCD液晶顯示器1用于顯示測試結果及信息；