[發明專利]用于測試二維碼解碼算法的測試裝置及測試方法

有效

• 申請號: 201611223289.9
• 申請日: 2016-12-27
• 公開（公告）號: CN106776332B
• 公開（公告）日: 2020-02-14
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 華東江蘇大數據交易中心股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 33313 浙江專橙律師事務所
• 代理人: 邢萬里

1.一種基于測試二維碼解碼算法的測試裝置的測試方法，所述測試裝置包括PC機，硬件電路、光源及機械平臺；

所述機械平臺包括一個用于懸掛光源的金屬架子及一個z軸方位、x軸及y軸偏轉角度可變的水平平臺；

所述光源倒掛在所述金屬架子頂端，用于提供所需的光照強度；

所述硬件電路包括圖像采集模塊，機械控制模塊以及系統供電模塊；

所述機械控制模塊連接所述水平平臺，用于控制水平平臺的z軸方位的調整，x軸及y軸偏轉角度的調整；

所述圖像采集模塊用于采集圖像，與所述機械控制模塊連接；

所述PC機作為上位機，與圖像采集模塊連接；

所述機械控制模塊包括MUC2處理器、與MUC2處理器連接的沿Z軸馬達升降機、沿X軸轉馬達、沿Y軸轉馬達、重力加速度器、NANDFLASH、LCD液晶顯示屏1以及按鍵2；

所述MUC2處理器用于控制沿Z軸馬達升降機、沿X軸轉馬達、沿Y軸轉馬達，控制所述水平平臺的z軸方位調整，x軸及y軸偏轉角度的調整；

所述NANDFLASH用于存放收集到的電子圖片；

所述按鍵2用于選擇測試模式；

所述LCD液晶顯示器1用于顯示測試結果及信息；

所述重力加速度器用于檢測所述水平平臺的z軸方位調整，x軸及y軸偏轉角度的調整；

所述圖像采集模塊還包括MCU1處理器，與MCU1處理器連接的光源強度控制模塊、攝像頭、SRAM、LCD液晶顯示屏2、按鍵1、PHY電路、以及UART；

所述MCU1處理器用于控制攝像頭進行圖像采集；

所述光源強度控制模塊用于控制所述光源的強度；

所述攝像頭位于所述水平平臺的正上方，用于采集電子圖片及補充光源的光照強度；

所述LCD液晶顯示屏2放置在由沿Z軸馬達升降機、沿X軸轉馬達及沿Y軸轉馬達控制的；

所述水平平臺上，用于顯示從所述NANDFLASH調取的電子圖片；

所述SRAM用于內存擴展；

所述UART連接與PC機與MCU1處理器之間，用于PC機與MCU1處理器之間的數據傳輸；

所述PHY電路連接與PC機與MCU1處理器之間，用于高速傳輸采集的圖像；

所述按鍵1可調節光源的光照強度及控制MCU1處理器進行單次操作；

其特征在于：所述方法包括以下步驟：

(1)通過按鍵2的輸入，通過MCU2處理器選擇測試模式，自動測試模式進入步驟(2)，手動測試模式進入步驟(3)；

(2)自動測試模式：

A.從NANDFLASH中調取任意一張電子圖片顯示在LCD液晶顯示屏2上；

B.通過機械模塊自動控制水平平臺進z軸方位調整，x軸及y軸偏轉角度的調整，監控并檢測調整狀態，具體地：

a.分別自動設置z軸高度閾值f0，x軸偏轉角度閾值f1，y軸偏轉角度閾值f2；

b.MCU2處理器自動控制z軸馬達升降機，使水平平臺與攝像頭距離高度達到z軸高度閾值f0，進入步驟c；

c.MCU2處理器自動控制x軸馬達，調整水平平臺在X軸上的偏轉角度，用重力加速器檢測偏轉角度為偏轉角度閾值f1，進入步驟d；

d.MCU2處理器自動控制Y軸馬達，調整水平平臺在Y軸上的偏轉角度，用重力加速器檢測偏轉角度為偏轉角度閾值f2，檢測通過進入步驟C；

C.MCU2處理器與MCU1處理器通信，并進行測試準備，打開光源，進行光源強度控制；

D.MCU1處理器控制攝像頭進行圖形采集，采集的圖像存放在所述SRAM中；

E.對圖像采集模塊采集的圖像進行二維碼解碼運算；

F.解碼運算的測試結果在LCD液晶顯示屏1上顯示，以文檔形式傳送到PC機；

G.MCU2處理器通過軟件平臺控制MCU2處理器自動進行下一次測試；

(3)手動測試模式：

A.通過機械控制模塊手動控制，對水平平臺的z軸方位，x軸及y軸偏轉角度進行調整；

B.調取NANDFLASH中任一張電子圖片顯示在LCD液晶顯示屏2上；

C.手動按所述按鍵1，進行光源光照強度調整；

D.手動按所述按鍵1，通過MCU1處理器控制攝像頭進行單次采集圖像或根據步驟(2)中步驟E進行單次二維碼解碼運算測試；

E.解碼運算的測試結果在LCD液晶顯示屏1上顯示，或以文檔形式傳送到PC機；

所述步驟(3)中步驟a與步驟b順序互換；

所述步驟(3)中還包括：

手動按n次所述按鍵1進行n次二維碼解碼運算，每按一次按鍵1，進行一次二維碼解碼運算；

其中n≥1且n為整數。