[發明專利]一種GPP芯片電泳法制作工藝在審
| 申請號: | 201611218647.7 | 申請日: | 2016-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN106653600A | 公開(公告)日: | 2017-05-10 |
| 發明(設計)人: | 張波;宋委 | 申請(專利權)人: | 鳳陽嘉禾農業科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/329 | 分類號: | H01L21/329 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 gpp 芯片 電泳 法制 工藝 | ||
1.一種GPP芯片電泳法制作工藝,其特征在于:所述制作工藝包括選擇制造材料、硅片清洗、磷預淀積、硼擴散、雙面噴砂去氧化層、鈍化保護、玻璃鈍化、漂洗和劃片。
2.根據權利要求1所述的一種GPP芯片電泳法制作工藝,其特征在于:所述選擇制造材料采用N型直拉單晶硅,選擇原始硅片厚度約270±10um。
3.根據權利要求2所述的一種GPP芯片電泳法制作工藝,其特征在于:所述硅片清洗用混合酸、清洗劑和純水在清洗槽或超聲波清洗機內清洗硅片,清洗完成后使用烘干機使其表面潔凈并烘干。
4.根據權利要求3所述的一種GPP芯片電泳法制作工藝,其特征在于:所述磷預淀積選用P60紙質磷源,所述P60紙質磷源更適合GPP芯片的生產,所述硅片每兩片中間放一張磷源紙,將硅片排列整齊并壓緊在石英舟中。
5.根據權利要求4所述的一種GPP芯片電泳法制作工藝,其特征在于:所述硼擴散硼源選用B40紙質硼源。
6.根據權利要求5所述的一種GPP芯片電泳法制作工藝,其特征在于:所述雙面噴砂去氧化層,硅片經自來水清洗后,噴砂去除未附磷紙那一面的擴散層,同時減薄硅片去除約10um,用混合酸、清洗劑和純水在清洗槽或超聲波清洗機內清洗硅片,去除硅片表面的缺陷、金屬雜質、可動離子和有機物,使其表面潔凈并烘干。
7.根據權利要求6所述的一種GPP芯片電泳法制作工藝,其特征在于:所述鈍化保護鈍化液包括氧化氫、磷酸和去離子水,所述鈍化液的配比為過氧化氫:磷酸:去離子水=1:1:2-4;溫度70℃±5℃,時間為40s-60s。
8.根據權利要求7所述的一種GPP芯片電泳法制作工藝,其特征在于:所述玻璃鈍化包括以下步驟:
(1)乙二醇和醋酸纖維素作為懸浮媒介,所述乙二醇和醋酸纖維素的體積比為1:1。
(2)每100克懸浮液中加入2-4克玻璃粉,利用超聲波進行超聲4-5分鐘,將超聲過后的液體靜置4-5分鐘后將其倒入石英液槽內。
(3)按2.0-4.0g/L的比例加入28%的氨水。
(4)上述電解液添加好后超聲混合4分鐘然后將攜帶硅片及其反電極的裝置浸入電解液中,硅片和反電極的最佳距離是2厘米。
(5)懸浮液靜置30秒后由直流電源通過電泳裝置的端子加以100-200V/cm場強,靜置2-4分鐘。
9.根據權利要求8所述的一種GPP芯片電泳法制作工藝,其特征在于:所述漂洗的漂洗液體為氟硼酸,用氟硼酸和水的混合液對芯片進行漂洗,漂洗時間為60-90s,用于去除表面的氧化層。
10.根據權利要求9所述的一種GPP芯片電泳法制作工藝,其特征在于:所述劃片是將漂洗完成過后的芯片按照規定的形狀進行劃片處理,得到所需的芯片。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





