[發(fā)明專利]基于代數(shù)重建法反饋控制的一致性測(cè)試用例策略調(diào)度方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611218161.3 | 申請(qǐng)日: | 2016-12-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106844197B | 公開(公告)日: | 2020-06-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 謝昊飛;楊宏;閆陽;張暉;張藝;韓麗;卓蘭 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 重慶郵電大學(xué);中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京同恒源知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11275 | 代理人: | 廖曦 |
| 地址: | 400065 *** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 代數(shù) 重建 反饋 控制 一致性 測(cè)試 策略 調(diào)度 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種基于代數(shù)重建法反饋控制的一致性測(cè)試用例策略調(diào)度方法,屬于通信協(xié)議軟件一致性測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括測(cè)試用例選取階段和測(cè)試調(diào)度階段;所述測(cè)試用例選取階段,采用層次分析法確定出測(cè)試用例關(guān)鍵度系數(shù)W,結(jié)合測(cè)試用例重合度描述測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)系數(shù)Z;在測(cè)試調(diào)度階段,采用基于代數(shù)重建法反饋控制的算法,搜索出測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)系數(shù)Z最大的測(cè)試用例并執(zhí)行測(cè)試,并通過反饋信息,計(jì)算測(cè)試執(zhí)行后的需求覆蓋,判定是否調(diào)度剩余測(cè)試用例執(zhí)行測(cè)試。該方法的有益效果在于:能夠在完成測(cè)試覆蓋前提下,更快地覆蓋測(cè)試需求,減少測(cè)試用例執(zhí)行的個(gè)數(shù),縮短測(cè)試時(shí)間。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于通信協(xié)議軟件一致性測(cè)試領(lǐng)域,涉及一種基于代數(shù)重建法反饋控制的一致性測(cè)試用例策略調(diào)度方法。
背景技術(shù)
在一致性測(cè)試過程中,如何在測(cè)試用例集中搜索合適的測(cè)試用例并調(diào)用執(zhí)行,提高測(cè)試效率并獲得最優(yōu)的測(cè)試覆蓋是一個(gè)具有理論價(jià)值和現(xiàn)實(shí)意義的問題。目前,國內(nèi)外對(duì)一致性測(cè)試用例調(diào)度方法有許多研究,Walcott等研究了與時(shí)間因素相關(guān)的測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)排序技術(shù)。Dennis等研究了基于切片的測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)排序技術(shù)。Srikanth等研究了基于需求的測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)排序技術(shù)。Ramanathan等提出了一種基于圖理論的測(cè)試用例排序方法。Sampath等將請(qǐng)求序列出現(xiàn)概率、參數(shù)覆蓋情況等應(yīng)用于Web應(yīng)用程序的測(cè)試用例排序的研究。
這些測(cè)試用例調(diào)度方法應(yīng)用不同的測(cè)試環(huán)境,也有著不同的測(cè)試目的。在測(cè)試資源受限的情況下,我們就希望完成測(cè)試覆蓋前提下,更快地覆蓋測(cè)試需求,減少測(cè)試用例執(zhí)行的個(gè)數(shù),縮短測(cè)試時(shí)間。相應(yīng)地,采用優(yōu)先執(zhí)行包含更多測(cè)試需求的測(cè)試用例的方法就可以更快地完成測(cè)試的覆蓋。因而,如何選取包含更多測(cè)試需求的測(cè)試用例,如何搜索調(diào)度優(yōu)先執(zhí)行的測(cè)試用例就是這個(gè)方法所值得研究的問題。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明的目的在于解決傳統(tǒng)一致性測(cè)試過程中測(cè)試執(zhí)行無策略或執(zhí)行策略效率低下的問題,為此提供一種基于代數(shù)重建法反饋控制的一致性測(cè)試用例策略調(diào)度方法。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:
一種基于代數(shù)重建法反饋控制的一致性測(cè)試用例策略調(diào)度方法,該方法包括測(cè)試用例選取階段和測(cè)試調(diào)度階段;所述測(cè)試用例選取階段,采用層次分析法確定出測(cè)試用例關(guān)鍵度系數(shù)W,結(jié)合測(cè)試用例重合度描述測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)系數(shù)Z;在測(cè)試調(diào)度階段,采用基于代數(shù)重建法反饋控制的算法,搜索出測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)系數(shù)Z最大的測(cè)試用例并執(zhí)行測(cè)試,并通過反饋信息,計(jì)算測(cè)試執(zhí)行后的需求覆蓋,判定是否調(diào)度剩余測(cè)試用例執(zhí)行測(cè)試。
進(jìn)一步的,測(cè)試結(jié)束的條件為:測(cè)試覆蓋的完成或所有測(cè)試用例已全部執(zhí)行,否則測(cè)試將會(huì)繼續(xù)直至滿足測(cè)試結(jié)束條件。
進(jìn)一步的,在所述測(cè)試用例選取階段描述測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)系數(shù)Z,包括以下步驟:
1)根據(jù)PICS/PIXIT表信息獲取全部測(cè)試用例對(duì)測(cè)試需求的覆蓋情況,構(gòu)建測(cè)試需求覆蓋關(guān)系矩陣D,用測(cè)試需求來描述測(cè)試用例;
2)采用一種改進(jìn)的層次分析法分析測(cè)試需求的重要度系數(shù),確定出各測(cè)試用例的關(guān)鍵度系數(shù)W;
3)定義并計(jì)算出測(cè)試用例重合度MT(Ti,Tj),描述測(cè)試用例之間的差異性,用來提高測(cè)試覆蓋范圍;
4)結(jié)合測(cè)試用例重合度MT(Ti,Tj),確定出測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)系數(shù)Z,用來搜索最優(yōu)測(cè)試序列。
進(jìn)一步的,所述采用一種改進(jìn)的層次分析法分析測(cè)試需求的重要度系數(shù),具體步驟如下:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于重慶郵電大學(xué);中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院,未經(jīng)重慶郵電大學(xué);中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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