[發(fā)明專(zhuān)利]基于代數(shù)重建法反饋控制的一致性測(cè)試用例策略調(diào)度方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201611218161.3
• 申請(qǐng)日: 2016-12-26
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN106844197B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-06-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 謝昊飛;楊宏;閆陽(yáng);張暉;張藝;韓麗;卓蘭
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 重慶郵電大學(xué);中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
• 主分類(lèi)號(hào): G06F11/36
• 分類(lèi)號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京同恒源知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11275
• 代理人: 廖曦

1.一種基于代數(shù)重建法反饋控制的一致性測(cè)試用例策略調(diào)度方法，其特征在于，該方法包括測(cè)試用例選取階段和測(cè)試調(diào)度階段；所述測(cè)試用例選取階段，采用層次分析法確定出測(cè)試用例關(guān)鍵度系數(shù)W，結(jié)合測(cè)試用例重合度描述測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)系數(shù)Z；在測(cè)試調(diào)度階段，采用基于代數(shù)重建法反饋控制的算法，搜索出測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)系數(shù)Z最大的測(cè)試用例并執(zhí)行測(cè)試，并通過(guò)反饋信息，計(jì)算測(cè)試執(zhí)行后的需求覆蓋，判定是否調(diào)度剩余測(cè)試用例執(zhí)行測(cè)試；

在所述測(cè)試用例選取階段描述測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)系數(shù)Z，包括以下步驟：

1)根據(jù)PICS/PIXIT表信息獲取全部測(cè)試用例對(duì)測(cè)試需求的覆蓋情況，構(gòu)建測(cè)試需求覆蓋關(guān)系矩陣D，用測(cè)試需求來(lái)描述測(cè)試用例；

2)采用一種改進(jìn)的層次分析法分析測(cè)試需求的重要度系數(shù)，確定出各測(cè)試用例的關(guān)鍵度系數(shù)W；

3)定義并計(jì)算出測(cè)試用例重合度M_T(T_i,T_j)，描述測(cè)試用例之間的差異性，用來(lái)提高測(cè)試覆蓋范圍；其中，T_i、T_j表示測(cè)試用例集T中的任意兩個(gè)測(cè)試用例；

4)結(jié)合測(cè)試用例重合度M_T(T_i,T_j)，確定出測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)系數(shù)Z，用來(lái)搜索最優(yōu)測(cè)試序列。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于代數(shù)重建法反饋控制的一致性測(cè)試用例策略調(diào)度方法，其特征在于：測(cè)試結(jié)束的條件為：測(cè)試覆蓋的完成或所有測(cè)試用例已全部執(zhí)行，否則測(cè)試將會(huì)繼續(xù)直至滿足測(cè)試結(jié)束條件。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于代數(shù)重建法反饋控制的一致性測(cè)試用例策略調(diào)度方法，其特征在于，所述采用一種改進(jìn)的層次分析法分析測(cè)試需求的重要度系數(shù)，具體步驟如下：

1)根據(jù)用戶定義將測(cè)試需求集合中D的每個(gè)需求d劃分出重要程度，對(duì)測(cè)試需求d₁,d₂,…,d_j的重要度兩兩比較，并計(jì)算Δ＝Imp(d_i)-Imp(d_j)；

2)依據(jù)判斷尺度表，對(duì)全部測(cè)試需求的重要度兩兩比較后，計(jì)算得到判斷矩陣R，其中，判斷尺度表由用戶定義需求重要度；

3)對(duì)矩陣R按列規(guī)范化，對(duì)各行相加得到和數(shù)

4)對(duì)重要度系數(shù)規(guī)范化

5)測(cè)試用例T_i的關(guān)鍵度權(quán)重系數(shù)W_i，

其中，S_j表示測(cè)試用例T_i與需求覆蓋映射的n維向量；表示由測(cè)試需求的重要度權(quán)重系數(shù)構(gòu)成的n維矩陣。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于代數(shù)重建法反饋控制的一致性測(cè)試用例策略調(diào)度方法，其特征在于：所述測(cè)試用例重合度M_T(T_i,T_j)用于描述測(cè)試用例集T中任意兩個(gè)測(cè)試用例T_i、T_j的空間距離關(guān)系，且：

其中：T_i的坐標(biāo)為T(mén)_j的坐標(biāo)為M_T(T_i,T_j)的值越小，表明測(cè)試用例T_i和T_j的重合度越小，在空間中相隔距離越遠(yuǎn)，且差異性也越大，就越能提高測(cè)試覆蓋范圍。