[發明專利]一種數模混合集成電路的測試模塊

有效

• 申請號: 201611214526.5
• 申請日: 2016-12-23
• 公開（公告）號: CN106802388B
• 公開（公告）日: 2019-06-04
• 發明（設計）人: 樊旭;喻賢坤;姜爽;孔瀛;彭斌;王莉;李健;劉松林;穆辛;王磊;袁超
• 申請（專利權）人: 北京時代民芯科技有限公司;北京微電子技術研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 臧春喜

1.一種數模混合集成電路的測試模塊，其特征在于包括：模式控制單元、輸入管腳復用單元、輸出管腳復用單元以及DAC數據旁路單元；

模式控制單元：根據外部輸入的模式控制信號chip_mode1，chip_mode0，產生ADC測試模式信號adc_mode、掃描測試模式信號scan_mode、功能模式信號func_mode以及DAC測試模式信號dac_mode，并將掃描測試模式信號scan_mode、功能模式信號func_mode以及DAC測試模式信號dac_mode輸出給輸入管腳復用單元，將ADC測試模式信號adc_mode、掃描測試模式信號scan_mode以及功能模式信號func_mode輸出給輸出管腳復用單元，將功能模式信號func_mode以及DAC測試模式信號dac_mode輸出給DAC數據旁路單元；

輸入管腳復用單元：接收數模混合集成電路的輸入信號DIN，根據來自于模式控制單元的掃描測試模式信號scan_mode、功能模式信號func_mode以及DAC測試模式信號dac_mode，確定輸入管腳復用單元的功能輸出信號func_do、掃描輸出信號scan_do、DAC測試輸出信號dac_do；

輸出管腳復用單元：接收ADC的輸出信號adc_di、數字功能邏輯的功能輸出信號func_di以及數字功能邏輯的掃描輸出信號scan_di，根據來自于模式控制單元的ADC測試模式信號adc_mode、功能模式信號func_mode以及掃描測試模式信號scan_mode，確定輸出管腳復用單元的輸出信號DOUT，并向外輸出，所述輸出信號DOUT用于判斷第一模擬功能邏輯和ADC的功能設計、數字功能邏輯的功能設計、數字功能邏輯的掃描設計是否正確；

DAC數據旁路單元：接收數字功能邏輯的功能輸出數據func_data、輸入管腳復用單元的DAC測試輸出信號dac_do，根據來自于模式控制單元的功能模式信號func_mode，以及DAC測試模式信號adc_mode，確定DAC數據旁路單元的輸出數據dac_data，該數據通過DAC和第二模擬功能邏輯向外輸出DAC測試結果，所述第二模擬功能邏輯向外輸出DAC測試結果用于判斷DAC和模擬功能邏輯的功能設計是否正確。

2.根據權利要求1所述的一種數模混合集成電路的測試模塊，其特征在于：當模式控制信號chip_mode1＝0，chip_mode0＝0時，ADC測試模式信號adc_mode＝0、掃描測試模式信號scan_mode＝0、功能模式信號func_mode＝1以及DAC測試模式信號dac_mode＝0，電路工作在功能模式；當模式控制信號chip_mode1＝0，chip_mode0＝1時，ADC測試模式信號adc_mode＝0、掃描測試模式信號scan_mode＝0、功能模式信號func_mode＝0以及DAC測試模式信號dac_mode＝1，電路工作在DAC測試模式；當模式控制信號chip_mode1＝1，chip_mode0＝0時，ADC測試模式信號adc_mode＝1、掃描測試模式信號scan_mode＝0、功能模式信號func_mode＝0以及DAC測試模式信號dac_mode＝0，電路工作在ADC測試模式；當模式控制信號chip_mode1＝1，chip_mode0＝1時，ADC測試模式信號adc_mode＝0、掃描測試模式信號scan_mode＝1、功能模式信號func_mode＝0以及DAC測試模式信號dac_mode＝0，電路工作在掃描測試模式。

3.根據權利要求1所述的一種數模混合集成電路的測試模塊，其特征在于：所述輸入管腳復用單元確定輸入管腳復用單元的功能輸出信號func_do、掃描輸出信號scan_do、DAC測試輸出信號dac_do的原則為：當掃描測試模式信號scan_mode為1時，掃描輸出信號scan_do等于輸入信號DIN，其余兩個為固定電平；當功能模式信號func_mode為1時，功能輸出信號func_do等于輸入信號DIN，其余兩個為固定電平；當DAC測試模式信號dac_mode為1時，DAC測試輸出信號dac_do等于輸入信號DIN，其余兩個為固定電平。