[發(fā)明專利]一種多探頭和單探頭綜合測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201611204385.9
• 申請(qǐng)日: 2016-12-23
• 公開（公告）號(hào): CN108241095A
• 公開（公告）日: 2018-07-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉科宏
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 劉科宏
• 主分類號(hào): G01R29/10
• 分類號(hào): G01R29/10
• 代理公司: 北京維正專利代理有限公司 11508
• 代理人: 楊春女

本發(fā)明公開了一種多探頭和單探頭綜合測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法，旨在解決現(xiàn)有的天線測(cè)量系統(tǒng)中無(wú)法實(shí)現(xiàn)從米波級(jí)頻帶到毫米波級(jí)頻帶的測(cè)量的缺點(diǎn)，其技術(shù)方案要點(diǎn)是：一種多探頭和單探頭綜合測(cè)試系統(tǒng)，包括可旋轉(zhuǎn)的承載臺(tái)、位于所述承載臺(tái)一側(cè)具有多個(gè)呈環(huán)形陣列分布的用于實(shí)現(xiàn)米波級(jí)與毫米波級(jí)之間頻帶檢測(cè)的第一探頭的多探頭陣列裝置、以及位于與所述多探頭陣列裝置相對(duì)的一側(cè)具有一能夠繞被測(cè)物旋轉(zhuǎn)以形成檢測(cè)弧面的用于檢測(cè)米波級(jí)頻帶及毫米波級(jí)頻帶上下延伸的第二探頭的單探頭檢測(cè)裝置。本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法實(shí)現(xiàn)了對(duì)被測(cè)物從米波級(jí)頻帶到毫米波級(jí)頻帶輻射特性數(shù)據(jù)的測(cè)量，且測(cè)量過程更加便捷。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及天線測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說(shuō)，它涉及一種多探頭和單探頭綜合測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法。

背景技術(shù)

在天線測(cè)量系統(tǒng)中需要測(cè)定電磁性能的被測(cè)物通常會(huì)具有從米波級(jí)頻帶到毫米波級(jí)頻帶不同頻段的波長(zhǎng)，而一種探頭只能覆蓋有限的一段，為了實(shí)現(xiàn)米波級(jí)頻帶到毫米波級(jí)頻帶的頻率覆蓋一般需要幾十種探頭，在單一的多探頭陣列中是無(wú)法實(shí)現(xiàn)的；同時(shí)米波級(jí)頻帶的探頭一般都比較大，尺寸可以通常在1米到3米，將它作為多探頭陣列布置在一個(gè)弧形陣列上是難以實(shí)現(xiàn)的，而毫米波級(jí)頻帶雖然探頭尺寸小，但是其配到的波導(dǎo)和擴(kuò)頻模塊體積也非常大，在弧形陣列上布局多探頭也是不現(xiàn)實(shí)的，因此在現(xiàn)有的天線測(cè)量系統(tǒng)中，要實(shí)現(xiàn)從米波級(jí)頻帶到毫米波級(jí)頻帶的測(cè)量是十分困難的。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本發(fā)明的第一個(gè)目的在于提供一種多探頭和單探頭綜合測(cè)試系統(tǒng)，具有實(shí)現(xiàn)從米波級(jí)頻帶到毫米波級(jí)頻帶的測(cè)量更加便捷的優(yōu)點(diǎn)。

本發(fā)明的上述技術(shù)目的是通過以下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn)的：一種多探頭和單探頭綜合測(cè)試系統(tǒng)，包括可旋轉(zhuǎn)的承載臺(tái)、位于所述承載臺(tái)一側(cè)具有多個(gè)呈環(huán)形陣列分布的用于實(shí)現(xiàn)米波級(jí)與毫米波級(jí)之間頻帶檢測(cè)的第一探頭的多探頭陣列裝置、以及位于與所述多探頭陣列裝置相對(duì)的一側(cè)具有一能夠繞被測(cè)物旋轉(zhuǎn)以形成檢測(cè)弧面的用于檢測(cè)米波級(jí)頻帶及毫米波級(jí)頻帶上下延伸的第二探頭的單探頭檢測(cè)裝置。

通過采用上述技術(shù)方案，在測(cè)試時(shí)，驅(qū)動(dòng)承載臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)，第一探頭即可形成對(duì)被測(cè)物的檢測(cè)球面，從而檢測(cè)出被測(cè)物米波級(jí)與毫米波級(jí)之間頻帶的輻射特性數(shù)據(jù)；若需要檢測(cè)米波級(jí)頻帶及毫米波級(jí)頻帶上下延伸范圍的輻射特性數(shù)據(jù)，驅(qū)動(dòng)第二探頭繞被測(cè)物轉(zhuǎn)動(dòng)一周，第二探頭對(duì)被測(cè)物的一個(gè)切面進(jìn)行檢測(cè)，隨后再驅(qū)動(dòng)承載臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)至被測(cè)物的另一個(gè)切面，第二探頭對(duì)被測(cè)物的第二個(gè)切面進(jìn)行檢測(cè)，直至承載臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)一周，第二探頭也形成對(duì)被測(cè)物的檢測(cè)球面，從而檢測(cè)出被測(cè)物米波級(jí)頻帶及毫米波級(jí)頻帶上下延伸范圍的輻射特性數(shù)據(jù)；通過多探頭陣列裝置和單探頭檢測(cè)裝置的同步使用，實(shí)現(xiàn)了對(duì)被測(cè)物從超長(zhǎng)波到毫米波級(jí)頻帶輻射特性數(shù)據(jù)的測(cè)量，測(cè)量過程更加便捷。

本發(fā)明進(jìn)一步設(shè)置為：所述多探頭陣列裝置包括用于固定多個(gè)所述第一探頭且呈扇形狀的安裝環(huán)和用于固定所述安裝環(huán)的支撐架，所述承載臺(tái)位于所述安裝環(huán)的圓心處。

通過采用上述技術(shù)方案，安裝環(huán)呈扇形狀，從而第一探頭在安裝環(huán)上即呈環(huán)形陣列分布，形成對(duì)被測(cè)物的檢測(cè)弧面，實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)物米波級(jí)與毫米波級(jí)之間頻帶的輻射特性數(shù)據(jù)的測(cè)量。

本發(fā)明進(jìn)一步設(shè)置為：所述單探頭檢測(cè)裝置包括立架、轉(zhuǎn)動(dòng)連接于所述立架用于固定所述第二探頭的擺臂、以及用于驅(qū)動(dòng)所述擺臂轉(zhuǎn)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述第二探頭位于所述承載臺(tái)的正上方。

通過采用上述技術(shù)方案，通過驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)擺臂轉(zhuǎn)動(dòng)，從而帶動(dòng)第二探頭繞被測(cè)物進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，形成對(duì)被測(cè)物的檢測(cè)弧面，實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)物米波級(jí)頻帶及毫米波級(jí)頻帶上下延伸范圍的輻射特性數(shù)據(jù)的測(cè)量。

本發(fā)明進(jìn)一步設(shè)置為：所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括承托架、固定于所述承托架的第一驅(qū)動(dòng)電機(jī)、固定于所述第一驅(qū)動(dòng)電機(jī)轉(zhuǎn)軸的第一主動(dòng)齒輪、以及固定于所述擺臂且與所述第一主動(dòng)齒輪相嚙合的第一從動(dòng)齒輪。

通過采用上述技術(shù)方案，啟動(dòng)第一驅(qū)動(dòng)電機(jī)帶動(dòng)第一主動(dòng)齒輪轉(zhuǎn)動(dòng)，從而帶動(dòng)第一從動(dòng)齒輪轉(zhuǎn)動(dòng)，即帶動(dòng)擺臂轉(zhuǎn)動(dòng)，最終帶動(dòng)第二探頭繞被測(cè)物轉(zhuǎn)動(dòng)形成檢測(cè)弧面。