[發明專利]一種多探頭和單探頭綜合測試系統和測試方法

在審

• 申請號: 201611204385.9
• 申請日: 2016-12-23
• 公開（公告）號: CN108241095A
• 公開（公告）日: 2018-07-03
• 發明（設計）人: 劉科宏
• 申請（專利權）人: 劉科宏
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 北京維正專利代理有限公司 11508
• 代理人: 楊春女

1.一種多探頭和單探頭綜合測試系統，其特征在于：包括可旋轉的承載臺、位于所述承載臺一側具有多個呈環形陣列分布的用于實現米波級與毫米波級之間頻帶檢測的第一探頭(13)的多探頭陣列裝置、以及位于與所述多探頭陣列裝置相對的一側具有一能夠繞被測物旋轉以形成檢測弧面的用于檢測米波級頻帶及毫米波級頻帶上下延伸的第二探頭(23)的單探頭檢測裝置。

2.根據權利要求1所述的一種多探頭和單探頭綜合測試系統，其特征在于：所述多探頭陣列裝置包括用于固定多個所述第一探頭(13)且呈扇形狀的安裝環(12)和用于固定所述安裝環(12)的支撐架(11)，所述承載臺位于所述安裝環(12)的圓心處。

3.根據權利要求2所述的一種多探頭和單探頭綜合測試系統，其特征在于：所述單探頭檢測裝置包括立架(21)、轉動連接于所述立架(21)用于固定所述第二探頭(23)的擺臂(22)、以及用于驅動所述擺臂(22)轉動的驅動機構，所述第二探頭(23)位于所述承載臺的正上方。

4.根據權利要求3所述的一種多探頭和單探頭綜合測試系統，其特征在于：所述驅動機構包括承托架(241)、固定于所述承托架(241)的第一驅動電機(242)、固定于所述第一驅動電機(242)轉軸的第一主動齒輪(243)、以及固定于所述擺臂(22)且與所述第一主動齒輪(243)相嚙合的第一從動齒輪(244)。

5.根據權利要求4所述的一種多探頭和單探頭綜合測試系統，其特征在于：所述承托架(241)滑移連接于所述立架(21)，且所述立架(21)上設有用于驅動所述擺臂(22)沿豎直方向移動的升降機構。

6.根據權利要求5所述的一種多探頭和單探頭綜合測試系統，其特征在于：所述升降機構包括固定于所述立架(21)的第二驅動電機(251)和固定于所述第二驅動電機(251)轉軸且螺紋連接于所述承托架(241)的第一絲桿(252)。

7.根據權利要求1至6任意一項所述的一種多探頭和單探頭綜合測試系統，其特征在于：所述承載臺包括載物平臺(31)、用于驅動所述載物平臺(31)轉動的周向驅動組件和用于驅動所述載物平臺(31)升降的軸向驅動組件。

8.根據權利要求7所述的一種多探頭和單探頭綜合測試系統，其特征在于：所述周向驅動組件包括的轉動連接于地面的支撐桿(321)、固在地面上的第三驅動電機(322)、固定于所述第三驅動電機(322)轉軸的第二主動齒輪(323)、固定于所述支撐桿(321)且與所述第二主動齒輪(323)相嚙合的第二從動齒輪(324)以及固定于所述支撐桿(321)端部的支撐平臺。

9.根據權利要求8所述的一種多探頭和單探頭綜合測試系統，其特征在于：所述軸向驅動組件包括固定于所述支撐平臺的安裝套筒(331)、轉動連接于所述安裝套筒(331)底壁的從動錐齒輪(332)、固定于所述從動錐齒輪(332)端面的升降套筒(333)、螺紋連接于所述升降套筒(333)且滑移連接于所述安裝套筒(331)的升降桿(334)、轉動連接于所述升降套筒(333)且與所述從動錐齒輪(332)相嚙合的主動錐齒輪(335)、以及固定于所述支撐平臺且轉軸固定于所述主動錐齒輪(335)的第四驅動電機(336)，所述載物平臺(31)固定于所述升降桿(334)的端部。

10.根據權利要求7所述的一種多探頭和單探頭綜合測試系統，其特征在于：所述承載臺還包括用于驅動所述載物平臺(31)沿水平方向發生傾斜的橫向驅動組件。