[發明專利]液晶面板及其通電檢測裝置

在審

• 申請號: 201611200351.2
• 申請日: 2016-12-22
• 公開（公告）號: CN106597705A
• 公開（公告）日: 2017-04-26
• 發明（設計）人: 宋彥君
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G09G3/00
• 代理公司: 深圳市銘粵知識產權代理有限公司44304
• 代理人: 孫偉峰,武岑飛

技術領域

本發明屬于液晶顯示技術領域，具體地講，涉及一種液晶面板及其通電檢測裝置。

背景技術

隨著光電與半導體技術的演進，也帶動了平板顯示器(Flat Panel Display)的蓬勃發展，而在諸多平板顯示器中，液晶顯示器(Liquid Crystal Display，簡稱LCD)因具有高空間利用效率、低消耗功率、無輻射以及低電磁干擾等諸多優越特性，已被應用于生產生活的各個方面。

液晶顯示器通常包括相對設置的液晶面板和背光模塊，其中由于液晶面板無法發光，因此需要背光模塊向液晶面板提供均勻的光線，以使液晶面板顯示影像。液晶面板通常包括對盒組裝的彩膜基板(CF基板)和陣列基板(Array基板)以及填充到二者之間的液晶。在液晶面板的液晶配向制程中，對彩膜基板和陣列基板加電壓，液晶分子在電場作用下有序傾倒，保持電壓不變，同時利用紫外光照射液晶，使液晶中添加的化學單體聚合，從而固定液晶分子，使其與基板形成預定傾角。

在現有技術中，對彩膜基板和陣列基板加電壓的方式為：利用頂針(pin)與彩膜基板接觸，彩膜基板通過導電件(諸如金球(Au Ball))與陣列基板連通，電流通過導電件導通到陣列基板上。然而在實際的制程中，由于制程誤差，例如受金球位置精度影響、彩膜基板與陣列基板對盒不良，會導致金球壓縮率偏小，導致電流導通不良。如無通電檢測裝置，則無法判斷陣列基板是否加上電壓。這樣會導致液晶配向紊亂，從而產生液晶面板顯示質量差等問題。

發明內容

為了解決上述技術問題，本發明的目的在于提供一種能夠實時判斷陣列基板的電壓狀態的液晶面板及其通電檢測裝置。

根據本發明的一方面，提供了一種液晶面板的通電檢測裝置，所述液晶面板包括：對盒設置的彩膜基板和陣列基板，所述彩膜基板和所述陣列基板包括顯示區以及位于所述顯示區之外且包圍所述顯示區的非顯示區，所述通電檢測裝置包括：第一檢測墊、第二檢測墊以及導電件，所述第一檢測墊設置于所述彩膜基板的非顯示區，所述第二檢測墊設置于所述陣列基板的非顯示區，所述導電件夾設于所述彩膜基板和所述陣列基板之間且與所述第一檢測墊和所述第二檢測墊分別接觸。

進一步地，在所述彩膜基板的顯示區的相對兩側各設置至少一個所述第一檢測墊，在所述陣列基板的顯示區的相對兩側各設置至少一個所述第二檢測墊，在所述陣列基板的顯示區的相對兩側的所述第二檢測墊通過設置于所述陣列基板的非顯示區的金屬線連通，位于所述顯示區同一側的彼此相對的所述第一檢測墊和所述第二檢測墊之間夾設所述導電件。

進一步地，在所述彩膜基板的顯示區的一側設置至少兩個所述第一檢測墊，在所述陣列基板的顯示區的一側各設置至少兩個所述第二檢測墊，所述第二檢測墊之間通過設置于所述陣列基板的非顯示區的金屬線連通，所述第一檢測墊與所述第二檢測墊位于所述顯示區的同一側且一一彼此相對，彼此相對的所述第一檢測墊和所述第二檢測墊之間夾設所述導電件。

進一步地，所述金屬線被設置為多重彎折形狀，以增加所述金屬線的電阻。

進一步地，所述導電件為金球或含有金球的膠材。

進一步地，所述第一檢測墊的制作材料與所述彩膜基板的公共電極的制作材料相同。

進一步地，所述第一檢測墊通過切割所述彩膜基板的位于非顯示區的公共電極的一部分形成。

進一步地，所述第二檢測墊采用金屬材料或者透明的導電材料制成。

根據本發明的另一方面，還提供了一種液晶面板，其包括上述的通電檢測裝置。

進一步地，當對液晶面板進行通電檢測時，通過檢測由所述第一檢測墊、所述第二檢測墊和所述導電件構成的回路中的電流值來確定所述液晶面板通電是否正常。

本發明的有益效果：本發明通過設置通電檢測裝置，能夠實時監測電路回路中電流變化，從而可以判斷陣列基板是否加上電壓。這樣在液晶配向時可及時獲取陣列基板的電壓狀態，從而避免液晶配向紊亂而產生的液晶面板顯示質量差等問題。

附圖說明

通過結合附圖進行的以下描述，本發明的實施例的上述和其它方面、特點和優點將變得更加清楚，附圖中：

圖1是根據本發明的實施例的彩膜基板的平面圖；

圖2是根據本發明的實施例的陣列基板的平面圖；

圖3根據本發明的實施例的液晶面板的結構示意圖；

圖4是根據本發明的另一實施例的彩膜基板的平面圖；

圖5是根據本發明的另一實施例的陣列基板的平面圖。

具體實施方式