[發明專利]液晶面板及其通電檢測裝置

在審

• 申請號: 201611200351.2
• 申請日: 2016-12-22
• 公開（公告）號: CN106597705A
• 公開（公告）日: 2017-04-26
• 發明（設計）人: 宋彥君
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G09G3/00
• 代理公司: 深圳市銘粵知識產權代理有限公司44304
• 代理人: 孫偉峰,武岑飛

1.一種液晶面板的通電檢測裝置，所述液晶面板包括：對盒設置的彩膜基板和陣列基板，所述彩膜基板和所述陣列基板包括顯示區以及位于所述顯示區之外且包圍所述顯示區的非顯示區，其特征在于，所述通電檢測裝置包括：第一檢測墊、第二檢測墊以及導電件，所述第一檢測墊設置于所述彩膜基板的非顯示區，所述第二檢測墊設置于所述陣列基板的非顯示區，所述導電件夾設于所述彩膜基板和所述陣列基板之間且與所述第一檢測墊和所述第二檢測墊分別接觸。

2.根據權利要求1所述的通電檢測裝置，其特征在于，在所述彩膜基板的顯示區的相對兩側各設置至少一個所述第一檢測墊，在所述陣列基板的顯示區的相對兩側各設置至少一個所述第二檢測墊，在所述陣列基板的顯示區的相對兩側的所述第二檢測墊通過設置于所述陣列基板的非顯示區的金屬線連通，位于所述顯示區同一側的彼此相對的所述第一檢測墊和所述第二檢測墊之間夾設所述導電件。

3.根據權利要求1所述的通電檢測裝置，其特征在于，在所述彩膜基板的顯示區的一側設置至少兩個所述第一檢測墊，在所述陣列基板的顯示區的一側各設置至少兩個所述第二檢測墊，所述第二檢測墊之間通過設置于所述陣列基板的非顯示區的金屬線連通，所述第一檢測墊與所述第二檢測墊位于所述顯示區的同一側且一一彼此相對，彼此相對的所述第一檢測墊和所述第二檢測墊之間夾設所述導電件。

4.根據權利要求3所述的通電檢測裝置，其特征在于，所述金屬線被設置為多重彎折形狀，以增加所述金屬線的電阻。

5.根據權利要求1至4任一項所述的通電檢測裝置，其特征在于，所述導電件為金球或含有金球的膠材。

6.根據權利要求1至4任一項所述的通電檢測裝置，其特征在于，所述第一檢測墊的制作材料與所述彩膜基板的公共電極的制作材料相同。

7.根據權利要求6所述的通電檢測裝置，其特征在于，所述第一檢測墊通過切割所述彩膜基板的位于非顯示區的公共電極的一部分形成。

8.根據權利要求1至4任一項所述的通電檢測裝置，其特征在于，所述第二檢測墊采用金屬材料或者透明的導電材料制成。

9.一種液晶面板，其特征在于，包括權利要求1至8任一項所述的通電檢測裝置。

10.根據權利要求9所述的液晶面板，其特征在于，當對液晶面板進行通電檢測時，通過檢測由所述第一檢測墊、所述第二檢測墊和所述導電件構成的回路中的電流值來確定所述液晶面板通電是否正常。