[發明專利]熒光免疫層析測試基線數據的處理方法

有效

• 申請號: 201611187363.6
• 申請日: 2016-12-20
• 公開（公告）號: CN107367610B
• 公開（公告）日: 2019-04-16
• 發明（設計）人: 王佩瑞;李歡;倪曉濤;陸亮;肖琨;周亦迪;郭昊巖;曹秋岑
• 申請（專利權）人: 上海艾瑞德生物科技有限公司
• 主分類號: G01N33/558
• 分類號: G01N33/558;G01N33/543;G01N33/533
• 代理公司: 上海一平知識產權代理有限公司 31266
• 代理人: 徐嘉慧;馬思敏

1.一種處理熒光免疫層析測試基線數據的方法，包括步驟：

(1)提供一免疫層析試紙條、一激發光源和一受激光讀取裝置，其中，

所述激發光源用于產生激發光，所述激發光被照射在所述層析試紙條上，從而形成光斑；

并且所述的激發光源配有控制裝置，用于控制所述的免疫層析試紙條和所述激發光源的相對位置，從而使得所述光斑沿所述層析試紙條的長度方向進行移動；

其中，所述的免疫層析試紙條設有測試線，所述試紙條長度為L₀，寬度為W₀，所述測試線長度為L_t；

(2)使所述激發光源產生激發光，照射在所述層析試紙條的近端上，從而形成光斑，并通過所述受激光讀取裝置讀取光斑區域發出的受激光；

(3)通過所述控制裝置控制光斑在試紙條上沿層析試紙條的近端至遠端方向，從當前位置移動到下一位置，并讀取下一位置處光斑區域發出的受激光；

(4)重復步驟(3)Z-1次，Z為≥10的正整數，直至所述光斑掃過測試線；

(5)基于讀取的受激光信號強度，設信號峰前n個點的信號強度值的算術平均值為設信號峰后m個點的信號強度值的算術平均值為當時，采用擬合基線法確定基線所在曲線，其中，n≥2，且m≥2。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，當時，采用擬合基線法確定基線所在曲線，其中，I_peak為信號峰頂點對應的信號值。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，3≤n≤12和/或3≤m≤12。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述信號峰前n個信號強度值中最大值與最小值的差值為Δ_n，并且Δ_n≥15％·(I_peak–n_min)；和/或

所述信號峰后m個信號強度值中最大值與最小值的差值Δ_m，并且Δ_m≥15％·(I_peak–m_min)。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟(5)中，所述擬合基線法按照如下公式(i)計算：

式中，y₀，A₁，A₂，t₁，t₂為函數參數，y₀表示偏移量，A₁和A₂是指前因子，t₁和t₂表示弛豫時間。

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述的信號峰前n個點或后m個點是連續或不連續的。

7.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述Z為≥36的正整數。

8.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟(1)中，所述光斑按相等的移動步長S_t0掃過免疫層析試紙條的整個長度，讀取N個數據點的熒光值，并且按公式(ii)確定移動步長：

9.如權利要求8所述的方法，其特征在于，所述的移動步長S_t0是相等的或不等的。

10.如權利要求8所述的方法，其特征在于，所述測試線長度L_t的范圍為0.45-1.55mm；和/或；

所述測試線寬度W₀范圍為1.5-5.0mm；和/或

所述試紙條的長度L₀的范圍為12.5-14.5mm；和/或

所述數據點N的范圍為100-500；和/或

所述步長S_t0的范圍為0.025-0.145mm。