[發明專利]光加工裝置有效
| 申請號: | 201611186186.X | 申請日: | 2016-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN106914703B | 公開(公告)日: | 2019-06-28 |
| 發明(設計)人: | 中島智宏;中村涼真;杉浦康一 | 申請(專利權)人: | 株式會社理光 |
| 主分類號: | B23K26/362 | 分類號: | B23K26/362;B23K26/082;B23K26/064;B23K26/70 |
| 代理公司: | 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245 | 代理人: | 徐東升;趙蓉民 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 加工對象物 加工區域 光加工裝置 加工 偏離 加工控制部 位置檢測部 加工位置 停止位置 間歇性輸送 加工數據 間歇輸送 檢測結果 檢測 光源 送入 照射 | ||
1.一種光加工裝置,其中具有:光照射部,用于向加工區域照射該加工光,其中具備發射加工光的光源;輸送部,用于向規定的輸送方向,間歇性地輸送加工對象物,將該加工對象物的被加工面上的被加工部分依次送入所述加工區域;以及,加工控制部,用于在所述加工對象物上的被加工部分停止在所述加工區域上的狀態下,根據加工數據,實行加工控制,用所述光源照射的加工光加工該被加工部分,其特征在于,具有位置檢測部,用于在所述加工對象物上的被加工部分停止在所述加工區域上時,檢測設于該加工對象物上的檢測用標記的位置,所述加工控制部根據所述位置檢測部的檢測結果,求出所述輸送部輸送的加工對象物的停止位置的偏離,并根據該偏離,對加工位置進行補償,
所述位置檢測部包含第一位置檢測部和第二位置檢測部,
所述第一位置檢測部用于檢測設于所述加工對象物上與所述輸送方向相垂直的寬度方向上的一端端部一方的第一檢測用標記的位置,
所述第二位置檢測部,用于在所述加工對象物上的被加工部分停止在所述加工區域上時,檢測設于所述加工對象物上的所述寬度方向上另一端端部一方的第二檢測用標記的位置,
所述加工控制部根據所述第一位置檢測部檢測到的第一檢測用標記的位置和所述第二位置檢測部檢測到的第二檢測用標記的位置,來補償所述輸送部輸送的加工對象物在所述寬度方向的兩端端部之間的相對停止位置偏離造成的加工位置偏離。
2.根據權利要求1的光加工裝置,其特征在于,所述加工控制部在實行所述加工控制時,使得所述加工對象物上兩個在所述輸送方向上相鄰的被加工部分互相鄰接或者部分重疊。
3.根據權利要求1所述的光加工裝置,其特征在于,
所述位置檢測部進一步具有第三位置檢測部,該第三位置檢測部用于在經過所述第一位置檢測部檢測之后受到所述輸送部輸送后,在所述加工對象物上的被加工部分停止在所述加工區域上時,檢測與受到該第一位置檢測部檢測的同一個檢測用標記的位置,
所述加工控制部補償所述同一個檢測用標記的計算檢測位置與實際檢測位置之間的偏離造成的加工位置偏離,所述計算檢測位置是指,根據所述第一位置檢測部的檢測結果導出用所述第三位置檢測部檢測所述同一個檢測用標記的位置得到的計算結果,所述實際檢測位置是指,所述第三位置檢測部實際檢測到的該同一個檢測用標記的位置。
4.根據權利要求3所述的光加工裝置,其特征在于,所述加工控制部通過根據所述位置檢測部的檢測結果補償所述加工數據,來補償加工位置偏離。
5.根據權利要求4所述的光加工裝置,其特征在于,所述加工控制部根據所述位置檢測部的檢測結果來補償所述加工數據,使得受到所述加工光照射的被加工部分上的加工位置向所述輸送方向移動。
6.根據權利要求5所述的光加工裝置,其特征在于,所述加工控制部根據所述位置檢測部的檢測結果補償所述加工數據,使得受到所述加工光照射的被加工部分上的加工位置向垂直于所述輸送方向的方向移動。
7.根據權利要求6所述的光加工裝置,其特征在于,所述加工控制部根據所述位置檢測部的檢測結果補償所述加工數據,使得受到所述加工光照射的被加工部分上的加工位置向圍繞平行于該被加工面的法線方向的轉動軸轉動的方向移動。
8.根據權利要求7所述的光加工裝置,其特征在于,每當受到所述輸送部間歇性地輸送的所述加工對象物上的被加工部分停止在所述加工區域上時,所述位置檢測部檢測設于該加工對象物上的檢測用標記的位置。
9.根據權利要求8所述的光加工裝置,其特征在于,
所述光照射部具備光掃描部,該光掃描部用于在平行于所述加工對象物的被加工面的方向且垂直于所述輸送方向的方向上掃描所述光源發射的加工光,
進一步具有移動部,用于使得所述光照射部加工光射出部在與該加工光在所述加工對象物的被加工面上的掃描方向平行的方向上移動。
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