[發(fā)明專利]基于傅里葉梅林及特征匹配的LCD缺陷檢測系統(tǒng)及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611174488.5 | 申請日: | 2016-12-19 |
| 公開(公告)號: | CN108205210B | 公開(公告)日: | 2020-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳文建;朱炳斐;李武森;張峻乾 | 申請(專利權(quán))人: | 南京理工大學(xué) |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 南京理工大學(xué)專利中心 32203 | 代理人: | 馬魯晉 |
| 地址: | 210094 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 傅里葉 梅林 特征 匹配 lcd 缺陷 檢測 系統(tǒng) 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種LCD顯示缺陷自動光學(xué)檢測系統(tǒng)及方法,具體是一種基于傅里葉梅林及特征匹配的LCD缺陷檢測系統(tǒng)及方法的實現(xiàn)。裝置有計算機、圖像采集卡、與計算機相連的一個CMOS工業(yè)相機,放置待測顯示屏的載物臺,兩者垂直中間是環(huán)形階梯狀LED光源,待測顯示屏及驅(qū)動顯示裝置。基于傅里葉梅林及特征匹配的圖像配準(zhǔn)算法能夠?qū)崿F(xiàn)高精度配準(zhǔn),這是該系統(tǒng)及方法的核心,圖像融合進一步提高配準(zhǔn)精度,最后通過差影法檢測缺陷以及最小外接矩形法統(tǒng)計缺陷位置及類型信息。本發(fā)明實現(xiàn)了對LCD顯示缺陷的實時高精度檢測。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于LCD顯示缺陷檢測領(lǐng)域,特別是一種基于傅里葉梅林及特征匹配的LCD缺陷檢測系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)
LCD顯示屏作為各種儀器儀表、手機電腦等電子器件的重要顯示器件,對提高我國電子信息行業(yè)的市場競爭力起著至關(guān)重要的作用。LCD顯示屏生產(chǎn)工藝繁雜,很容易出現(xiàn)多種缺陷,影響成像質(zhì)量,降低良品率,因此對LCD顯示屏的缺陷檢測顯得尤為重要。
成像質(zhì)量一直是LCD顯示制造追求的目標(biāo),良好的產(chǎn)品質(zhì)量是其立足的根本。傳統(tǒng)的檢測方法是人工視覺檢查法,需要花費大量的人力,且人眼的分辨率不高會出現(xiàn)漏檢誤檢,主觀性大,且長期工作會產(chǎn)生視覺疲勞導(dǎo)致穩(wěn)定性不高,很難保證質(zhì)量檢測精度,無法成為統(tǒng)一的檢測標(biāo)準(zhǔn),所以慢慢地被取代。
在光電信息技術(shù)飛速進步和發(fā)展的推動作用下,目前已經(jīng)推廣出新型先進的缺陷檢測方法—機器視覺檢測。基于機器視覺的檢測技術(shù)有很多的優(yōu)點:(l)非接觸式檢測,避免對被檢測者產(chǎn)生額外的“缺陷”,檢測的可靠性得以有效的保證(2)頻譜響應(yīng)范圍大,所能檢測的對象十分廣泛,比如人眼觀測不到可見光之外的紅外、超聲波等波長的存在,總體來說比人眼的視覺范圍更加寬闊(3)人工檢測會挑剔環(huán)境而且會疲勞影響工作效率,機器視覺卻可以適應(yīng)各種環(huán)境且不知疲憊能長時間測量分析,能夠取代大量的人工勞動力(4)它還能節(jié)省大量的資源,降低成本,給產(chǎn)業(yè)帶來巨大的經(jīng)濟效益,特別是大批量加工生產(chǎn)的企業(yè)。
缺陷檢測中最關(guān)鍵的是圖像配準(zhǔn),目前主要的傳統(tǒng)方法是單純的基于特征匹配的方法,且其中的幾何變換是仿射變換。獲得標(biāo)準(zhǔn)圖和處理光照變化影響是通過多張標(biāo)準(zhǔn)無缺陷的圖求平均的方法。
現(xiàn)有的檢測方法的缺點在于:1)獲取標(biāo)準(zhǔn)圖庫的方法比較復(fù)雜,需要配準(zhǔn)再求平均,也占據(jù)了整體檢測的時間;2)配準(zhǔn)方法單一且復(fù)雜,比如金字塔搜索策略,時間比較久,且不能很好的考慮處理由于光照變化引起的亮度不一致的所有情況,除此以外仿射變換沒有考慮到實際拍攝中可能出現(xiàn)圖像畸變引入的三維空間狀態(tài),校正圖像變形,從而誤檢測;3)基于特征匹配的方法必須要去除誤匹配,且有些去除誤匹配的算法效果不好,且針對不同亮度的圖像檢測結(jié)果不穩(wěn)定,同時去除誤匹配算法增加了總體的匹配時間;4)不能處理存在大角度偏轉(zhuǎn)的圖像,放置LCD時必須要將其角度調(diào)整到可控范圍之內(nèi);5)全局自適應(yīng)閾值分割,會忽略掉某些與待測目標(biāo)背景極為相近的缺陷,出現(xiàn)漏檢。應(yīng)用范圍窄,不能適用于所有類型的LCD顯示缺陷檢測,且在其他行業(yè)沒有可拓展空間。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所解決的技術(shù)問題在于提供一種簡單、有效、快速、高精度、應(yīng)用前景更廣闊的LCD缺陷檢測系統(tǒng)及方法。
實現(xiàn)本發(fā)明目的的技術(shù)解決方案為:一種基于傅里葉梅林及特征匹配的LCD缺陷檢測系統(tǒng),包括LCD顯示屏成像系統(tǒng)和LCD顯示屏檢測系統(tǒng),所述LCD顯示屏成像系統(tǒng)包括CMOS相機、環(huán)形階梯狀LED光源、載物臺、LCD顯示屏及驅(qū)動顯示裝置,LCD顯示屏檢測系統(tǒng)包括圖像采集卡和計算機;
所述圖像采集卡與CMOS相機相連,控制CMOS相機采集LCD顯示屏圖像,所述LCD顯示屏驅(qū)動顯示裝置、圖像采集卡與計算機相連,所述計算機控制驅(qū)動顯示裝置工作,驅(qū)動顯示裝置驅(qū)動LCD顯示屏顯示,所述計算機控制圖像采集卡采集LCD顯示屏顯示出的圖像;
所述CMOS相機、環(huán)形階梯狀LED光源、LCD顯示屏垂直依次放置,且CMOS相機的光軸與LCD顯示屏表面法向一致。
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G02F 用于控制光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨立光源的光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的





