[發明專利]一種信號校準方法及電子設備在審
| 申請號: | 201611170821.5 | 申請日: | 2016-12-16 |
| 公開(公告)號: | CN106788801A | 公開(公告)日: | 2017-05-31 |
| 發明(設計)人: | 熊朝廷;李紅輝;楊廷洪 | 申請(專利權)人: | 四川九洲電器集團有限責任公司 |
| 主分類號: | H04B17/21 | 分類號: | H04B17/21 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 621000 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 信號 校準 方法 電子設備 | ||
1.一種信號校準方法,應用于一電子設備,其特征在于,所述方法包括:
接收第一電子設備發送的第一信號;
確定所述第一信號的特征參數;
獲取與所述特征參數對應的校準信號;其中,不同的特征參數對應不同的校準信號;
通過所述校準信號對所述第一信號進行校準,獲得第二信號。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取與所述特征參數對應的校準信號,包括:
在電子設備中預存的特征參數與校準信號的對應關系中,獲取與所述特征參數對應的校準信號。
3.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取與所述特征參數對應的校準信號,包括:
向所述校準源發送與所述特征參數對應的第一參考信號;
接收所述校準源發送的與所述第一參考信號對應的第二參考信號;
根據所述第一參考信號與所述第二參考信號確定與所述特征參數對應的校準信號。
4.如權利要求3所述的方法,其特征在于,所述電子設備與所述第一電子設備通過第一射頻通道連接,所述電子設備與所述校準源通過第二射頻通道連接,其中,所述第一射頻通道與所述第二射頻通道不同;
所述接收第一電子設備發送的第一信號,具體為:通過所述第一射頻通道接收所述第一電子設備發送的第一信號;
所述向所述校準源發送與所述特征參數對應的第一參考信號,具體為:通過所述第二射頻通道向所述校準源發送與所述特征參數對應的第一參考信號;
所述接收所述校準源發送的與所述第一參考信號對應的第二參考信號,具體為:通過所述第一射頻通道接收所述校準源發送的與所述第一參考信號對應的第二參考信號。
5.如權利要求4所述的方法,其特征在于,當所述第一參考信號在所述第二射頻通道中不發生衰減時,所述根據所述第一參考信號與所述第二參考信號確定與所述特征參數對應的校準信號,包括:
獲取所述第一參考信號和所述第二參考信號的第一差值,所述第一差值為與所述特征參數對應的校準信號;
當所述第一參考信號在所述第二射頻通道中發生衰減且衰減預定值時,所述根據所述第一參考信號與所述第二參考信號確定與所述特征參數對應的校準信號,包括:
獲取所述第二參考信號與所述第一參考信號的第二差值;并獲取第二差值和所述預定值的第一和,所述第一和為與所述特征參數對應的校準信號。
6.一種電子設備,其特征在于,所述電子設備包括:
接收器,用于接收第一電子設備發送的第一信號;
處理器,用于確定所述第一信號的特征參數;根據所述特征參數確定與所述特征參數對應的校準信號;其中,不同的特征參數對應不同的校準信號;通過所述校準信號對所述第一信號進行校準,獲得第二信號。
7.如權利要求6所述的電子設備,其特征在于,所述處理器具體用于:
在電子設備中預存的特征參數與校準信號的對應關系中,獲取與所述特征參數對應的校準信號。
8.如權利要求6所述的電子設備,其特征在于,所述電子設備還包括一發送器,所述處理器還用于:
控制所述發送器向校準源發送與所述特征參數對應的第一參考信號;
控制所述接收器接收所述校準源發送的與所述第一參考信號對應的第二參考信號;
根據所述第一參考信號與所述第二參考信號確定與所述特征參數對應的校準信號。
9.如權利要求8所述的電子設備,其特征在于,所述電子設備與所述第一電子設備通過第一射頻通道連接,所述電子設備與所述校準源通過第二射頻通道連接,其中,所述第一射頻通道與所述第二射頻通道不同;
所述接收器具體用于:通過所述第一射頻通道接收所述第一電子設備發送的第一信號;
所述發送器具體用于:通過所述第二射頻通道向所述校準源發送與所述特征參數對應的第一參考信號;
所述接收器還用于:通過所述第一射頻通道接收所述校準源發送的與所述第一參考信號對應的第二參考信號。
10.如權利要求9所述的電子設備,其特征在于,當所述第一參考信號在所述第二射頻通道中不發生衰減時,所述處理器具體用于:
獲取所述第一參考信號和所述第二參考信號的第一差值,所述第一差值為與所述特征參數對應的校準信號;
當所述第一參考信號在所述第二射頻通道中發生衰減且衰減預定值時,所述處理器具體用于:
獲取所述第二參考信號與所述第一參考信號的第二差值;并獲取第二差值和所述預定值的第一和,所述第一和為與所述特征參數對應的校準信號。
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