[發明專利]基于微粒散射光近場照明的超分辨光學顯微成像方法有效
| 申請號： | 201611167202.0 | 申請日： | 2016-12-16 |
| 公開（公告）號： | CN106707484B | 公開（公告）日： | 2019-06-28 |
| 發明（設計）人： | 凌進中;隋國榮;張大偉;賈星偉;嚴錦雯;高秀敏;沈奶連;莊松林 | 申請（專利權）人： | 上海理工大學 |
| 主分類號： | G02B21/06 | 分類號： | G02B21/06 |
| 代理公司： | 上海申匯專利代理有限公司 31001 | 代理人： | 吳寶根 |
| 地址： | 200093 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 散射光 樣品表面 超分辨 成像 光學顯微成像 空間分辨率 近場 近場掃描光學顯微鏡 暗場光學顯微鏡 暗場顯微鏡 空間超分辨 微米顆粒 衍射極限 照明光源 逐點掃描 顯微鏡 明場 掃描 圖像 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于微粒散射光近場照明的超分辨光學顯微成像方法，其特征在于，包括如下步驟：
1)在現有的暗場光學顯微鏡的基礎上增加三維移動設備，三維移動設備控制微米級的微粒移動；
2)將待測樣品置于顯微物鏡的焦平面上；
3)將微粒移動接近待測樣品表面，距離待測樣品不超過1微米；
4)入射光從側面入射，微粒對入射光散射，使得微粒附近的區域被散射光照亮，在微粒的散射光照明下，暗場光學顯微鏡對微粒周圍被散射光照亮的待測樣品表面區域進行成像，完成待測樣品表面部分圖像采集；
5)利用三維移動設備控制微粒在樣品表面逐步按次序移動，并控制微粒距離待測樣品表面的間隔不超過1微米，每移動一步，用暗場光學顯微鏡采集一次圖像，直至完成待測樣品表面的圖像采集；
6)將所有采集圖像按次序拼接，實現待測樣品表面超分辨圖像。
2.根據權利要求1所述基于微粒散射光近場照明的超分辨光學顯微成像方法，其特征在于，所述微粒大小為1至50微米，用來散射顯微鏡的入射光，散射光作為顯微鏡的照明光源，散射光中高頻分量經過樣品表面的調制后，將有倏逝波轉化成傳播波，再由顯微物鏡收集，成像與像平面上。
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