[發(fā)明專利]DAC開關(guān)失配誤差的數(shù)字測量有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611156264.1 | 申請日: | 2016-12-15 |
| 公開(公告)號: | CN106888020B | 公開(公告)日: | 2020-12-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙嘉林 | 申請(專利權(quán))人: | 美國亞德諾半導(dǎo)體公司 |
| 主分類號: | H03M1/10 | 分類號: | H03M1/10 |
| 代理公司: | 中國貿(mào)促會專利商標事務(wù)所有限公司 11038 | 代理人: | 王莉莉 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | dac 開關(guān) 失配 誤差 數(shù)字 測量 | ||
對于使用反饋數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)用于轉(zhuǎn)換的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),最終的模擬輸出會受反饋DAC的誤差影響或由于反饋DAC的誤差而失真。可以實現(xiàn)數(shù)字測量技術(shù)來確定連續(xù)時間德爾塔西格瑪調(diào)制器(CTDSM)或連續(xù)時間流水線調(diào)制器中的反饋DAC的開關(guān)失配誤差。該方法強制每個DAC單位元件(UE)開關(guān)一定量的次數(shù),然后使用調(diào)制器本身來測量分別由于那些開關(guān)活動所導(dǎo)致的誤差。所獲得的誤差可以存儲在查找表中且在數(shù)字域或模擬域內(nèi)完全校正。
優(yōu)先權(quán)數(shù)據(jù)
本申請是受益于名稱為DIGITAL MEASUREMENT OF DAC SWITCHING MISMATCHERROR(DAC開關(guān)失配誤差的數(shù)字測量)的美國臨時專利申請(提交于2015年12月15日,序號為62/267,613)的非臨時專利申請。該美國臨時專利申請全文通過引用方式合并于此。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開一般涉及模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),更特別地涉及德爾塔西格瑪調(diào)制器(deltasigma modulator)或流水線調(diào)制器(pipeline modulator)中的數(shù)模轉(zhuǎn)換器開關(guān)失配誤差的數(shù)字測量。
背景技術(shù)
在許多電子應(yīng)用中,模擬輸入信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字輸出信號(例如,用于進一步數(shù)字信號處理)。例如,在精確測量系統(tǒng)中,電子設(shè)備設(shè)有一個或多個傳感器來進行測量,并且這些傳感器可以生成模擬信號。模擬信號隨后作為輸入將提供給ADC以生成數(shù)字輸出信號以便進一步處理。在另一實例中,天線基于在空中承載信息/信號的電磁波來生成模擬信號。通過天線所生成的模擬信號隨后作為輸入提供給ADC以生成數(shù)字輸出信號以便進一步處理。
ADC可見于許多地方,如寬帶通信系統(tǒng)、音頻系統(tǒng)、接收機系統(tǒng)等。ADC能夠變換表示真實世界現(xiàn)象如光、聲、溫度或壓力的模擬電信號以用于數(shù)據(jù)處理目的。ADC用于范圍廣泛的應(yīng)用,包括通信、能源、健康、儀器與測量、電動機與動力控制、工業(yè)自動化和航空/防御。設(shè)計ADC絕非易事,因為每個應(yīng)用可能具有速度、性能、功率、成本和尺寸方面的不同需要。由于需要ADC的應(yīng)用增長,對于精確且可靠的轉(zhuǎn)換性能的需要也增長。
附圖說明
為了提供對本公開及其特征和優(yōu)點的更完整的理解,參考以下結(jié)合附圖給出的說明書,在附圖中相似的附圖標記表示相似的部件,其中:
圖1是德爾塔西格瑪模數(shù)轉(zhuǎn)換器(DS ADC)的示例性的系統(tǒng)示意圖;
圖2是根據(jù)本公開的一些實施方案的1-2連續(xù)時間多級德爾塔西格瑪模數(shù)轉(zhuǎn)換器(CT MASH ADC)的示例性的系統(tǒng)示意圖;
圖3A示出了根據(jù)本公開的一些實施方案的示出了開關(guān)邊沿差和輸送的誤差電荷e(t)的兩個DAC元件的當前輸出;
圖3B示出了根據(jù)本公開的一些實施方案的由于開關(guān)失配誤差引起而輸送的誤差電荷e(t);
圖4示出了根據(jù)本公開的一些實施方案的開關(guān)失配誤差測量方案的框圖;
圖5是示出根據(jù)本公開的一些實施方案的用于數(shù)字估計和校準DAC元件的開關(guān)失配誤差的方法的流程圖。
具體實施方式
對于使用反饋數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)用于轉(zhuǎn)換的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),最終的模擬輸出會受反饋DAC的誤差影響或者由于反饋DAC的誤差而失真。數(shù)字測量技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)以確定(連續(xù)時間)德爾塔-西格瑪調(diào)制器(CTDSM)或(連續(xù)時間)流水線調(diào)制器中的反饋DAC的開關(guān)失配誤差。該方法強制每個DAC單位元件(UE)開關(guān)一定量的次數(shù)且然后使用調(diào)制器自身來測量分別由于那些開關(guān)活動導(dǎo)致的誤差。所獲得的誤差可以存儲在查找表中。所獲得的誤差可以在數(shù)字域或模擬域中完全校正。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于美國亞德諾半導(dǎo)體公司,未經(jīng)美國亞德諾半導(dǎo)體公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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